技术编号：6224832
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用小角与广角X射线散射联用原位研究材料结构演化的技术，具体涉及一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法。背景技术X射线的强大功能体现在小角和广角X射线散射的联用。结合小角和广角X射线散射，可以同时检测从0.1纳米到100纳米尺度范围的物质结构，即从分子排列到纳米自组装结构。借助近年X射线发生器、光学和探测器的发展和一些样品环境控制装置，利用小角和广角X射线散射联用装置，使原位实时研究化学反应、材料加工和生物体中结构和性能变化过程成为可能。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。