技术编号：6227477
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种激光勘查装置，发射用于现场勘查的光束，包括多个半导体激光单元，以阵列方式设置在底座上；汇聚反射镜，设置在半导体激光单元阵列上方以反射多个半导体激光单元发射的激光汇聚到出光口以形成出射光束；和调焦透镜部件，设置在出光口，调焦透镜部件用于对出射光束进行调节。本发明的激光勘查装置在勘探过程中不会破坏痕迹。专利说明激光勘查装置[0001]本发明涉及勘查，特别是涉及激光勘查装置。背景技术[0002]公安刑侦现场勘查中需要发现的痕迹包括大量生物质痕迹、...
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