技术编号：6244411
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种微波器件测试用压紧装置，涉及半导体器件测试工具。包括压块和通过压块上的螺钉孔能与测试平台紧固的螺钉，所述压块绝缘材料构成，压块底面设有微波器件端脚压紧凸起和微波器件适配的器件凹槽。本发明能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧，保证微波器件测试的稳定性和准确性，以及微波器件的无损性，本发明结构简单、成本低廉、通用性强、易于实现，保证了相关科研生产顺利进行。专利说明-种微波器件测试用压紧装置 [0001] 本发明涉及半导体器件测试工...
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