技术编号：6246750
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，根据样品的材质和厚度选择合适的激光脉冲能量和散焦距离，采用脉冲激光单点剥蚀贵金属饰品，简化了样品前期处理程序，然后使用电感耦合等离子体质谱仪检测金属饰品被剥蚀出的材料，采集各个元素检测同位素的时间分辨图，分析时间分辨图即可得知贵金属饰品的真假，无标样分析可精确得到贵金属的纯度；优点是整个剥蚀和信号采集过程所需时间仅为1-2min，检测速度快，另外激光强度并不会受剥蚀深度增加而减弱，不会因为样品过厚而无法充分剥蚀造成误判，不受涂层或者镀层厚度限...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。