技术编号:6426144
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子设备,具体涉及一种基于可编程逻辑器件的故障注入方法和装置。背景技术 随着测试技术的发展,容错测试日益受到重视。容错测试的目的是确定故障对系统造成的影响,以及在故障恢复后系统能够自动恢复正常的能力。因此,产生容错测试时需要的故障信号是容错测试过程中的一个非常必要的步骤。故障注入技术就是顺应容错测试需求而逐渐发展起来的一项技术。由于当今电子产品设计中可编程逻辑器件具有强大的可编程性能、高速的处理速度、众多的管脚等优点,因此可编程逻辑器件被广泛应用...
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请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。