技术编号:6433033
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路辅助设计软件工具中版图验证领域。背景技术集成电路版图验证过程中,设计工程师为了验证物理规则的正确性,需要开发一组版作为测试向量(Test Pattern) 0测试向量的开发通常有两种方法,一种是完全靠手工绘制版图,开发时间长,工作量大;另一种是先开发出可变参数单元(Pcell),再通过设置参数来产生不同的版图,这要求设计工程师具有较好的编程能力,因此设计门槛高,开发时间也很长。之所以测试向量和可变参数单元的开发需要完全依靠手工,而不能通过...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。