技术编号:6477091
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线成像,尤其涉及用于识别产品中杂质的X射线装置,其中杂质例如是例如金属颗粒的异物,而产品特别是指食物。 背景技术通常,X射线成像通过简单地比较产品图像中的所有像素与一些数值(或"阈值")来识别产品中的杂质。例如,对图像中的每个像素都指派了 灰度值并且这些灰度值与灰度阈值进行比较,其中具有低于阈值的灰度值 的像素(暗色像素)被认为代表杂质。这种技术对于产品是同类的情形是 非常有效的,然而,如果产品是非同类的并且包含亮色和暗色区域,诸如 一袋随机...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。