技术编号:6518641
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及编程具有错误校正码(ECC)的非易失性存储器(NVM)系统。一种编程非易失性半导体存储器器件(50)的方法包括确定在编程操作(60)期间编程验证失败的位单元的数量。所述位单元包括在位单元阵列的位单元的子集中。所述方法还确定先前是否已经针对位单元(74)的子集执行了错误校正码(ECC)校正。如果在预定数量的编程脉冲之后的编程验证失败的所述位单元数量低于阈值并且针对位单元的子集没有执行ECC校正,则所述编程操作被认为是成功的。专利说明编程具有错误校正...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。