技术编号：6571441
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种X射线探伤机辐射剂量控制方法及检测控制装置。背景技术 在对工件进行实时成像检测时，由于现有的X射线探伤机不带有辐射剂量检测与控制，用户在使用X射线探伤机对工件进行检测时，无法知道辐射的剂量率和累计剂量，只能通过观察曝光参数(如kV、mA及曝光时间等)来估算X射线探伤机的辐射剂量，每当工件的材质、厚度及拍片焦距等条件发生变化时，都要经过多次调整曝光参数和拍片才能获得所需要的辐射剂量，这样费时费力，且浪费材料。发明内容根据现有X射线探伤机存在的缺...
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