技术编号：6611594
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测试性技术，涉及。背景技术随着大规模集成电路的发展和应用，电子设备集成度越来越高、功能越来越复杂，随之而来的是故障模式的多样化，并体现出较强的耦合性和关联性，一种故障发生时会引起多个故障同时发生，导致故障检测和隔离时间长、难度大，维修工作量迅速增加。机内测试(Built-in test, BIT)技术是系统或设备依靠其内部检测电路和检测软件来完成系统或设备工作参数监测、故障检测和隔离的综合能力。现有的BIT工程设计方法主要有参数比较法和边界扫描法...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。