技术编号：6657197
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术 由α粒子或者宇宙辐射所引起的瞬时故障对于集成半导体电路来说日益成为一个问题。以下概率由于减小的结构宽度、下降的电压和更高的时钟频率而增加，即由α粒子或者宇宙辐射所引起的电压峰值在集成电路中使逻辑值失真。结果可能是错误的计算结果。因此，在安全性重要的系统中、尤其在机动车中，这种故障必须可靠地被检测。在必须可靠地检测电子设备的功能失误的安全性重要的系统、诸如机动车中的ABS调节系统中，冗余度通常在这种系统的相应的控制装置中被用于故障识别。因此，例如在...
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