技术编号：6739494
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于存储器制造领域，尤其涉及一种内建自测系统(BIST)的自检修补法。背景技术目前系统级芯片(System on Chip, SoC)嵌入式存储器的测试,大多采用内建自测试方法，即自行生成测试向量、存储器的控制信号和地址信号，并对存储器的相应数据与理想仿真数据进行比较，判断存储器有无故障。依照这种架构思想，半导体芯片上有存储器304 和标准的存储器内建自测(Memory Build-Inself-Test-Circuit, MBIST)系统 300 ...
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