存储器故障消除电路的制作方法技术资料下载

技术编号:6761148

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本发明涉及一种用于执行半导体存储器件中的冗余消除的半导体存储器件。背景技术 随着半导体的微型化的发展,包括半导体存储器件的半导体通常具有冗余电路来消除半导体器件部分的缺陷。当在检查时在存储器件部分中检测到缺陷时,已经用冗余电路部分来替换存储器件部分,以便实现半导体的产量的增加。(JP-A-11-238393等)然而,在包括半导体存储器件的常用半导体中,当在检查时在半导体存储器件部分中未检测缺陷时,不使用冗余消除电路,从而即使在不使用的电路中会不方便地产生泄...
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