技术编号：6762590
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及由组装自测试(BIST)进行的存储器的测试、特别是具有冗余单元的存储器的测试、以及能进行存储器周边逻辑的测试的。背景技术 近年来，安装在半导体集成电路(LSI)中的存储器的数目和规模(位宽数·字数)持续增大。与此相对应，用测试器从外部检查安装在LSI中的存储器所必要的外部引脚数和测试时间都会增加。对此，在LSI内部进行存储器的检查的BIST(Built In SelfTest内置自测试)技术的重要性提高了。通过采用BIST技术，能用少量的外部引脚...
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