技术编号:6923142
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及外延半导体结构,尤其是用于制造电子部件的外延硅晶片,还涉及其制备方法。更具体而言,该外延结构包括用N型掺杂剂(N+ ) 或P型掺杂剂(P+)重掺杂的单晶硅衬底以及用N型掺杂剂(N-)轻掺 杂的外延层,其中衬底中的氧沉淀受到抑制。背景技术通常通过直拉(Czochralski)法来制备单晶硅(其是用于制造半导体 电子部件的大多数工艺的起始材料),其中将单个的籽晶浸入到熔化的硅中,然后通过拉拔进行生长。由于熔化的硅#包含在石英坩埚中,因此熔化的硅会...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。