技术编号：6977828
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体涉及计算机芯片中的和用于计算机芯片的内置自测试(built-in-self-test)。背景技术内置自测试(BIST)设计已经在存储器和微处理器新芯片中普遍实行。有些BIST设计只在晶片级或模块级测试期间使用一次，以筛选出坏芯片。其它BIST设计在芯片的整个生命期被用来在每次通电之后进行自检和修复。在当今的高密度、高性能芯片设计中，BIST已经变成一个决定产品的开发成本和上市时间的关键电路成分。高密度动态随机存取存储器(DRAM)中的典型BIST...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。