技术编号:7041082
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种铁电存储器的铁电薄膜电容的制造方法,包括设置基底层1,上电极层2、上电极缓冲层3、铁电薄膜层4、下电极缓冲层5、下电极层6、粘结层7和阻挡层8按照从上至下的顺序顺次粘结固定在一起,阻挡层8粘结固定在硅基底层1上。其中噻吩或噻吩衍生物的聚合物形成粉末,掺杂到铅锆钛薄膜层中,形成铁电薄膜层4。专利说明—种铁电存储器的制造方法[0001]本发明涉及用于铁电存储器的铁电薄膜电容,属于铁电薄膜。背景技术[0002]基于半导体的非易失性存储器在数据存储...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。