检测晶片中深沟槽结构的实际关键尺寸及刻蚀深度的方法技术资料下载

技术编号:7262514

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本发明公开了一种。所述方法包括S1、形成贯穿衬底层的多个孔,使得多个孔的总长度大于深沟槽结构的预设关键尺寸;S2、对外延层中对应于衬底层中的多个孔的位置进行刻蚀,以形成深沟槽结构;S3、以光从外延层向衬底层方向照射晶片,在衬底层表面上形成亮场区和暗场区;S4、识别亮场区中孔的数目,计算深沟槽结构的实际关键尺寸;S5、如果深沟槽结构的实际关键尺寸小于预设关键尺寸,返回步骤S2;如果识别出的衬底层上的孔出现连接,则表明外延层的深沟槽结构已经过刻蚀。本发明能控制...
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