技术编号:72915
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及测定波长不同的多条2次X射线的相应强度的波长分散型荧光X射线分析装置。背景技术近年,作为能够针对波长不同的多条2次X射线,比如,荧光X射线和其基底,波长不同的多条荧光X射线,以充分的分辨率测定相应的强度的波长分散型荧光X射线分析装置,包括有多元素同时荧光X射线分析装置、扫描型荧光X射线分析装置。在多元素同时荧光X射线分析装置中,由于针对要测定的每条2次X射线,设置检测器,故成本较高。另一方面,在扫描型荧光X射线分析装置中,通过所谓的测角器等的联动机构,按照改变通过分光元件分光的荧光X射线的波长,同...
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