技术编号：7387098
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的目的在于提供一种能够在例如包含D锁存电路等在内的电平移位电路中，抑制负电涌的不良影响的技术。半导体驱动装置具有负电涌检测电路(32)、电平移位电路(31)。负电涌检测电路(32)检测在P侧SW元件(1a)与N侧SW元件(1b)的连接点(1c)处是否产生了负电涌。电平移位电路(31)在由负电涌检测电路(32)检测出负电涌的产生的情况下，保持用于P侧SW元件(1a)的驱动的驱动电压。专利说明半导体驱动装置以及半导体装置 [0001]本发明涉及能够...
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