技术编号：74163
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种用于监测电子束能量的方法和装置，以及电子束辐照系统和方法。背景技术电子束辐照加工技术中，辐照工艺是决定加工质量的重要因素，而辐射场的分布 是影响辐照工艺的关键因素。现有的使用电子加速器为辐射源的辐照装置，通常每隔一定 的时间，如一年，就要对辐射场做一次检测定标，以确定加速器输出电子束的能量、束流功 率、电子束的密度分布等情况。现有的加速器辐照装置中电子束能量测量技术，主要是通过测量电子束在水或某 些特定物质中的射程来推导。加速器产生的一定能量的电子束入射到物体中，随入射深度 的增加，电子逐渐被...
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