技术编号：8253693
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利说明 本发明涉及一种岩石表面风化剥落深度的量测方法，尤其涉及用于岩石表面风化 剥落深度量测的量测装置及其测量方法。背景技术 对于石质文物保护来说，其岩石表面因风化而产生的剥落现象是文物保护工作者 和科学研究者等人所关也的一大问题。为了保护石质文物和研究石质文物的风化速度，他 们不仅需要就石质文物岩石表面和其它需要量测的岩石表面发生风化之机理问题开展相 关的研究，而且还需量测出石质文物岩石表面因风化而导致的剥落深度，W评价被测对象 所遭受风化破坏的严重程...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。