技术编号：8256964
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。自动测试设备(ATE)通常用于测试制造的半导体元件，诸如，集成电路等。该测试系统通常包括与操作装置耦接的测试器。操作装置是一种放置工具，其将测试器件(DUT)(诸如，集成电路)放置在操作装置内的测试站。测试器发送指令到操作装置，诸如，分仓拣选信息、开始/停止信号等，以用于进行DUT的测试。测试器也耦接到DUT以检测并存储测试的结果，以报告给操作人员。工业系统将一个测试器连接到一个操作装置。通常操作装置可以利用操作装置内的八到三十二个测试站同时测试集成电路。...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。