技术编号:8280359
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明将单幅散斑条纹和相移光栅条纹投影相结合的H维轮廓测量方法和系统 构成。系统通过向物体表面投射单幅散斑图案利用灰度区域相关算法获得初始匹配点对; 然后通过投射相移光栅条纹解得的主值相位场对获得的点对进行精确匹配。最后根据待测 物体左右摄像机获得图片的匹配点对,即可测量物体的H维轮廓,重构物体的H维形状。属 于H维信息重构的领域。背景技术 随着科学技术和工业生产的快速发展,对物体测量精度的要求也越来越高。光学 H维测量技术通过对物体图像的分析,得到被测...
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