技术编号:8283887
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体材料外延生长的,更具体地,涉及。背景技术以GaN为代表的第三代宽禁带半导体材料具有宽禁带、高击穿电场强度、高饱和电子漂移速度、高热导率、异质界面二维电子气浓度高等优良的材料性能特点,相比于Si材料,GaN更加适合制作大功率高容量、高开关速度以及高频的电子器件。与传统Si器件相比,GaN器件能承载更高的功率密度,具有更高的能量转换效率,可以使整个系统的体积和重量减少,从而降低系统成本。由于缺乏同质衬底,目前在廉价的大尺寸Si衬底上生长GaN外...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。