技术编号：8342598
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。通常的DUT测试方案都是一对一或者使用乒乓连接方式进行测试。对应DUT的生产厂家而言，效率和测试精度是他们最关心的事情。所以一套并行测试DUT的方案就尤为显的重要了。目前的DUT测试时序分解测试时仪器占用时间的切片颗粒度大小决定测试时间长短，切片颗粒度越细，测试时间越短。反之亦然。目前绝大部分的测试软件对仪器控制的时间切片颗粒度都很大。我们以测试DUT的TX来说明，基本流程(I)DUT设置一> (2)仪器设置一(3) DUT开始发送数据一(4)仪器采...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。