技术编号：8379308
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。据申请人了解，X射线衍射分析(X-ray diffract1n,简称XRD),是利用晶体的X射线衍射，对组成晶态物质的原子大小和空间分布的结构分析方法。具体来讲是将特定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在晶体内遇到规则排列原子构成的格子结构而发生衍射，从而显示与结晶结构相对应的衍射现象。目前X射线衍射分析的探测器由于测量方式不同而有所区别。现有的对材料X射线衍射信息进行探测主要采用测角仪进行，Θ轴位置放置粉晶样品，2 Θ轴位置放置点探测器，点探测器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。