技术编号：8542522
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及无损检测，尤其涉及一种通过正电子液灌注对零件复杂内腔结构进行三维成像的检测方法。背景技术早在1928年英国物理学家Dirac P A M在研宄电子的量子理论时预言电子有反电子，1932年美国物理学家Anderson C D在研宄宇宙射线的云室照片中发现了正电子的存在，标志着人类开始研宄正电子。后来人们注意到正电子煙没后产生的γ光子可以获得金属材料、半导体材料、非金属材料、凝聚态物质内部的电子结构、缺陷与相变等信息，这引起了世界范围内科学家、学者的...
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