技术编号：8846913
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。X射线晶片角度测试仪应用X射线衍射原理，通过采用测角方式对各种单晶晶片进行角度测量及晶向的确定。生长出来的各种直径单晶晶锭先加工成晶，再加工成晶片，加工的晶片需要对晶片的单晶晶体角度精确地测定，同时要准确地判定晶体的晶向。传统的晶片角度测试仪，由工作台、上盖板、大型高压变压器、电器柜、测角仪等组成，测量角度范围窄、占地面积大、工作效率低、设备耗电量高、角度及晶向测量精度低，其X射线定向仪经晶片反射后被金属管接收，直接由微安表显示射线的峰值判定晶片的角度正确...
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