一种点阵扫描制备黑硅的方法和装置的制造方法技术资料下载

技术编号:8923769

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本发明设及到半导体光电材料制备领域,尤其设及到一种点阵扫描制备黑娃的方 法和装置。背景技术 黑娃是指采用物理或化学方法对单晶娃进行刻蚀,得到的一种表面具有周期性微 结构的材料。黑娃对可见光及近红外光都具有较高的吸收率,在0. 25ym~2. 5ym范围 内吸收率可达90%。2005年,EricMazur教授研究小组人员采用飞秒激光福照n(lll)娃 衬底制备的黑娃光电二极管探测器,在室温反向0. 5V偏压下,在lOOOnm处的光电响应度为 120A/W,...
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