技术编号：9303723
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 在天线设计中，为了确保所涉及的天线增益、主瓣宽度、旁瓣抑制等指标达到设计 要求，需要对其设计的指标进行测试，其中天线的方向图是最重要的测试结果。常用的天线 测试分为远场暗室测试和近场暗室测试。其中对于高频天线来说远场暗室测试需要的远 场测试距离大，一般的远场暗室空间有限，无法进行测试；而近场暗室测试需要的测试设备 成本高，测试环境要求高。发明内容 本发明所要解决的技术问题在于提供了一种能够进行高频天线测试的应用于高 频天线的远场方向图外场测试系统及测试方...
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