一种测试方法和装置的制造方法技术资料下载

技术编号:9434148

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随着集成电路深亚微米时代的到来,集成电路的规模不断扩大,促进了 SoC(系统级芯片,System on a Chip)的发展和应用。其中,存储器芯片是一种常用的SoC,为了保证其性能和可靠性,在其产品出厂前需要对其进行测试。以闪存存储器芯片为例,现有测试方法采用主机对闪存存储器芯片进行测试,其中,主机与闪存存储器信息通过接口协议进行通信,具体地,主机可以通过该接口协议将块设备的访问指令发送给闪存存储器,而闪存存储器可以通过该接口协议接收该块设备的访问指令,...
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