基于FPGA的NOR Flash抗辐照性能测试系统的制作方法技术资料下载

技术编号:9525266

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

集成电路测试是集成电路产业链中重要的构成部分,应用于集成电路的生产的整个过程,在保证产品性能、质量上具有不可替代的作用。作为集成电路产品中的一个主要门类,NOR Flash是一种可擦除、并具备重复编程能力的存储器,具有大容量、掉电非易失性、重量轻、体积小、抗震性好、低功耗等优点,越来越适应各个存储领域的实际需求。NOR Flash独特的结构与擦写机制,其物理缺陷抽象为功能故障时与传统的静态随机存取存储器SRAM或动态随机存取存储器DRAM故障不尽相同。因此...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 毕老师:机构动力学与控制
  • 袁老师:1.计算机视觉 2.无线网络及物联网
  • 王老师:1.计算机网络安全 2.计算机仿真技术
  • 王老师:1.网络安全;物联网安全 、大数据安全 2.安全态势感知、舆情分析和控制 3.区块链及应用
  • 张老师:1.机械设计的应力分析、强度校核的计算机仿真 2.生物反应器研制 3.生物力学
  • 许老师:1.气动光学成像用于精确制导 2.人工智能方法用于数据处理、预测 3.故障诊断和健康管理
  • 佟老师:1.机器视觉与图像处理 2.脑机接口与人机交互 3.人体动作检测与识别
  • 孙老师:1.机器视觉理论与应用 2.智能养老康复机器人