技术编号：9687973
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 如今高透光性的光学元件已是各种图像采集设备和显示设备中重要的组件。在光 学元件检测的过程中，光学表面的洁净度与损伤检测是一个非常重要的环节。目前多数检 测依靠人工肉眼识别。依靠人工肉眼识别的方式不仅耗费时间，且由于视觉疲劳的影响，容 易出现遗漏现象。目前较为先进的检测方式是采用机器视觉手段获取放大的光学表面图 像，进而通过模式识别的方式进行损伤检测。 目前主要应用于光学表面污溃损伤分析的手段主要有Canny算子进行边缘检测 法、灰度共生矩阵法、不变矩法W...
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