技术编号：9872297
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利说明本申请要求2013年5月23日提交的第61/826,663号美国临时专利申请的优先权， 该美国临时专利申请的全部公开内容以引用方式并入本文中。本申请还要求2014年1月14 日提交的第61 /927，354号美国临时专利申请的优先权，该美国临时专利申请的全部公开内 容以引用方式并入本文中。本申请涉及用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。此种系统的一个实例在 宽范围的入射角上提供样品的面内与面外双折射性质两者的同时成像。背景技术 许多重要光学材料展...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。