基于线性扩散板与反射分量分离理论的高光去除方法技术资料下载

技术编号:9912075

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上世纪70年代以来,编码光三维测量技术在高速检测、产品开发、质量控制、反求 工程等领域得到广泛的应用和发展,其具有高精度、高效率、非接触等优点。在编码光三维 测量中,需要在物体表面投射条纹,条纹携带了物体表面的三维信息,条纹的灰度变化反映 了物体表面轮廓的变化。然而在实际工业测量中,条纹截面的灰度变化会受到很多因素的 干扰,其中高光是影响最为强烈的一个因素。高光的存在不仅可能会使相机饱和,丢失条纹 灰度变化信息,而且还将改变原有漫反射条纹的灰度分布,从而...
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