技术编号:9918119
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。芯片于制作上,系将呈圆盘状具有电路的晶圆切割成为复数个芯片,之后历经数道制程及封装作业,完成芯片成品。厂商为确保产品的质量,均会进行芯片内部电路检测,与外观及引脚形状的检测,进而拣选出良品与不良品。目前IC外观检验装置的工作,主要包括外形检验及拣选分类两部份,其中外形检验至少包括引脚检验与外观检验两项,引脚检验主要是检验芯片的球栅阵列(Ball GridArray,BGA)或引脚的缺陷,外观检验则是针对未设有引脚的表面外型进行检验。拣选分类会根据检验结果将...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。