一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺及其服饰的制作方法
【专利说明】一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺及其服饰
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技术领域
本发明涉及印花服饰领域，特别涉及一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺及其服饰。
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【背景技术】
[0003]随着数码印花技术的发展，布料印花越来越便捷，各种印花厂都有小批量的个性印花服务。在印花服饰领域，常见的印花服装有两种方式:一、匹布印花:随着科技的进步，匹布印花已经可以像打印机一样，输入整卷的布料，以及可以循环的印花设计稿件，通过印花稿件在布料上不断的循环打印既可以得到整卷的印花面料。通过面料的裁剪得到裁片，缝纫成衣。二、裁片印花:裁片印花需要先把面料裁剪成裁片，然后在裁片上印花。再将印花过的裁片缝纫成成衣。
[0004]印花拼接作为一种工艺，其工艺难点在于拼接的精准。缝纫中，需要将印花在缝纫线处对准接上。当存在一处缝纫轨迹需要对准印花时，缝纫时直接用肉眼对准即可。当存在多处缝纫轨迹需要对准印花时，对准的基准存在多种可能，即每一处需要对准的印花都可以作为对准的基准。因此对准的基准随着印花的变化存在变数，使得加工工艺多种多样。但是由此会带来拼接的误差，并且不利于标准化操作。由于没有固定的定位基点往往会产生公差的累加，进而影响产品质量。
[0005]
【发明内容】
[0006]针对以上问题，本发明为一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺及其服饰，其中所有的印花的定位基于一个特定共同的通用的定位基准进行定位。缝纫加工过程中，将不同裁片上的通用定位基准对准，既可保证所有的裁片上印花对准，由于是基于一个特定共同的通用的定位基准进行定位因此不会产生公差的累加，为达此目的，本发明提供一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺，具体步骤如下:
1)在两个裁片上设计印花图案，第二裁片上的第二印花与第一裁片上的第一印花相互拼接，并根据实际情况确定缝纫轨迹；
2)确定第一裁片上的第一印花与对应第一缝纫轨迹靠第一裁片两个侧边相交处的交点为第一交叉点，确定第一裁片两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第一定位点；
3)确定第二裁片上的第二印花与对应第二缝纫轨迹靠第二裁片两个侧边相交处的交点为第二交叉点，确定第二裁片两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第二定位点；
4)通过计算机软件调整第一裁片上第一交叉点和第一定位点在缝纫轨迹上的线的距离A ; 5)通过计算机软件调整第二裁片上第二交叉点和第二定位点在缝纫轨迹上的线的距离B ;
6)确保距离A=距离B;
7)缝合第一裁片与第二裁片，缝合时对准其上相对的第一定位点和第二定位点，沿缝纫轨迹进行缝制，确保缝和后，第一裁片与第二裁片上印花上第一交叉点与第二交叉点完成对接；
8)当第二印花上与第一缝纫轨迹的交界线上所有点与第二印花上与第二缝纫轨迹上的所有点均完成对接后，第一印花与第二印花完成拼接。
[0007]作为本发明一种改进，步骤4和步骤5缝纫轨迹上的线为直线或曲线，考虑缝纫轨迹的实际情况一般可是是直线也可以是曲线。
[0008]作为本发明一种改进，缝纫轨迹的离裁片边界的距离为5-8mm，考虑不同情况距离一般在5_8_之间。
[0009]—种通过印花定位点进行加工的印花拼接服饰，在印花裁片上印有肉眼可辨的印花定位点，所述印花定位点位于缝纫轨迹的交叉处。
[0010]作为本发明一种改进，所述印花定位点的形状为实心点或空心圆或十字叉等形状，本发明印花定位点可采用以上形状，或其他易于识别形状。
[0011]作为本发明一种改进，所述印花定位点采取以下步骤进行确定拼接:
1)在两个裁片上设计印花图案，第二裁片上的第二印花与第一裁片上的第一印花相互拼接，并根据实际情况确定缝纫轨迹；
2)确定第一裁片上的第一印花与对应第一缝纫轨迹靠第一裁片两个侧边相交处的交点为第一交叉点，确定第一裁片两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第一定位点；
3)确定第二裁片上的第二印花与对应第二缝纫轨迹靠第二裁片两个侧边相交处的交点为第二交叉点，确定第二裁片两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第二定位点；
4)通过计算机软件调整第一裁片上第一交叉点和第一定位点在缝纫轨迹上的线的距离A ;
5)通过计算机软件调整第二裁片上第二交叉点和第二定位点在缝纫轨迹上的线的距离B ;
6)确保距离A=距离B;
7)缝合第一裁片与第二裁片，缝合时对准其上相对的第一定位点和第二定位点，沿缝纫轨迹进行缝制，确保缝和后，第一裁片与第二裁片上印花上第一交叉点与第二交叉点完成对接；
8)当第二印花上与第一缝纫轨迹的交界线上所有点与第二印花上与第二缝纫轨迹上的所有点均完成对接后，第一印花与第二印花完成拼接。
[0012]本发明印花定位点采取主要采用以上步骤进行拼接。
[0013]本发明提供一种印花拼接缝纫的定位技术，在印花设计时，同步设计印花定位点。印花定位点与印花图案同步印在服装的布料或者印花制版材料上。确保印花定位点的位置在缝纽轨迹上，或者不同缝纽轨迹的交叉处，保证其与服装的缝纽对位点保持重合。并保证所有的印花的定位基于一个共同的通用的定位基准进行定位。缝纫加工过程中，将不同裁片上的通用定位基准对准，既可保证所有的裁片上印花对准。从而使得缝纫加工方式唯一，这样只需对准通用的定位基准，既可保证印花拼接顺利，并且减少了公差的累加，进而减少了手工调整印花进行拼接带来的误差，实际缝制时，只需要对准印花定位点，既可保证基于该点定位的印花顺利拼接。
[0014]
【附图说明】
[0015]图1为本发明未画缝纫轨迹和定位点的示意图；
图2为本发明确定好缝纫轨迹和定位点后示意图；
图3为本发明的拼接完成后示意图；
具体标注如下:
1、第一裁片；2、第一印花； 3、第一缝纫轨迹；
4、第一交叉点；5、第一定位点；6、第二裁片；
7、第二印花；8、第二缝纫轨迹；9、第二交叉点；
10、第二定位点。
[0016]
【具体实施方式】
[0017]以下结合附图和实施例对发明做详细的说明:
本发明为一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺及其服饰，其中所有的印花的定位基于一个特定共同的通用的定位基准进行定位。缝纫加工过程中，将不同裁片上的通用定位基准对准，既可保证所有的裁片上印花对准，由于是基于一个特定共同的通用的定位基准进行定位因此不会产生公差的累加。
[0018]作为本发明工艺一种实施例，本发明提供一种通过印花定位点进行加工的印花拼接工艺，具体步骤如下:
1)在两个裁片上设计如图1所示的印花图案，第二裁片6上的第二印花7与第一裁片I上的第一印花2相互拼接，并根据实际情况确定缝纫轨迹，缝纫轨迹的离裁片边界的距离为5_8mm，考虑不同情况距离一般在5_8mm之间；
2)如图2所示确定第一裁片I上的第一印花2与对应第一缝纫轨迹3靠第一裁片I两个侧边相交处的交点为第一交叉点4，确定第一裁片I两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第一定位点5 ；
3)确定第二裁片6上的第二印花7与对应第二缝纫轨迹8靠第二裁片6两个侧边相交处的交点为第二交叉点9，确定第二裁片6两个侧边的缝纫轨迹的相交点为第二定位点10 ；
4)通过计算机软件调整第