有机发光显示设备的制作方法

此申请要求2015年8月27日提交到韩国知识产权局的韩国专利申请第10-2015-0120984号的优先权和权益，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本发明的实施例涉及有机发光显示设备，并且更特别地，涉及能够提高显示质量的有机发光显示设备。

背景技术：

随着信息技术的发展，作为用户和信息之间的连接介质的显示装置的重要性正变得越来越明显。有鉴于此，显示装置(诸如液晶显示设备和/或有机发光显示设备)的使用正在增加。

在这些显示装置中，有机发光显示设备通过使用通过电子和空穴的复合而生成光分量(颜色)的有机发光二极管(OLED)来显示图像。有机发光显示设备具有高响应速度，并以低功耗驱动。

有机发光显示设备包括以矩阵形式布置的多条数据线和扫描线的交点(例如交叉点)处的多个像素。像素中的每一个通常由OLED、包括驱动晶体管的两个或多个晶体管、以及一个或多个电容器形成。

有机发光显示设备使用少量的功率。然而，由于包括在像素中的驱动晶体管的阈值电压之间的偏差，因此流到OLED的电流量改变，使得导致显示的非均匀性。

另外，OLED的亮度由于根据OLED的劣化的效率变化而改变。随着时间推移，OLED劣化，使得响应于同一数据信号而生成具有更低亮度的光。

技术实现要素：

本发明的实施例的方面针对一种能够提高显示质量的有机发光显示设备。

根据本发明的一些实施例，提供了一种有机发光显示设备，包括：在多条扫描线、多条控制线和多条数据线的交叉区域处的多个像素；检测器，被配置成在检测时段中提取包括在多个像素中的多个第一晶体管的偏差信息和包括在多个像素中的多个有机发光二极管(OLED)的劣化信息中的至少一个；以及转换器，被配置成通过使用偏差信息和劣化信息中的至少一个来改变从外部输入的第一数据的比特，并且进一步被配置成生成第二数据，其中在第i(i是自然数)条水平线的像素包括：有机发光二极管；多个第一晶体管的第一晶体管，被配置成响应于第一节点的电压而控制从第一电源经由有机发光二极管流到第二电源的电流量；第二晶体管，连接在数据线和第一节点之间，并且被配置成当扫描信号被供给到第i条扫描线时导通；第三晶体管，连接在有机发光二极管的阳极和第三电源之间，并且被配置成当扫描信号被供给到第i条扫描线时导通；第四晶体管，连接在数据线和有机发光二极管的阳极之间，并且被配置成当控制信号被供给到第i条控制线时导通；以及存储电容器，连接在第一节点和有机发光二极管的阳极之间。

在一个实施例中，第三电源被配置成供给使有机发光二极管被截止的电压。

在一个实施例中，转换器被配置成生成第二数据，以补偿多个第一晶体管之间的偏差和有机发光二极管的劣化中的至少一个。

在一个实施例中，检测器包括：模数转换器(ADC)，被配置成将偏差信息和劣化信息中的至少一个改变成数字值；以及存储器，被配置成存储数字值。

在一个实施例中，有机发光显示设备进一步包括：扫描驱动器，被配置成将多个扫描信号供给到多条扫描线；控制线驱动器，被配置成将多个控制信号供给到多条控制线；数据驱动器，被配置成通过使用第二数据来生成多个数据信号并且将多个数据信号供给到多条数据线；以及开关，被配置成将多条数据线连接到检测器和数据驱动器中的至少一个。

在一个实施例中，在提取第i条水平线中的像素的偏差信息的检测时段，开关被配置成在检测时段的第一时段将多条数据线连接到数据驱动器，并且在检测时段的第二时段将多条数据线连接到检测器，扫描驱动器被配置成在第一时段将扫描信号供给到第i条扫描线，并且控制线驱动器被配置成在第二时段将控制信号供给到第i条控制线。

在一个实施例中，数据驱动器进一步被配置成在第一时段供给基准数据信号以导通第一晶体管。

在一个实施例中，在第一时段和第二时段之间的初始化时段，开关被配置成将多条数据线连接到数据驱动器，控制线驱动器被配置成将控制信号供给到第i条控制线，并且数据驱动器被配置成将初始化电压供给到数据线。

在一个实施例中，初始化电压是使有机发光二极管被截止的电压。

在一个实施例中，在提取在第i条水平线中的像素的劣化信息的检测时段，开关被配置成在检测时段的第一时段将多条数据线连接到数据驱动器，并且在检测时段的第二时段将多条数据线连接到检测器，扫描驱动器被配置成在第一时段将扫描信号供给到第i条扫描线，并且控制线驱动器被配置成在第二时段将控制信号供给到第i条控制线。

在一个实施例中，数据驱动器被进一步配置成在第一时段将对应于黑色灰度值的多个检测数据信号供给到数据线。

在一个实施例中，检测器被配置成在第二时段将基准电流或基准电压供给到多条数据线。

在一个实施例中，在第一时段和第二时段之间的初始化时段，开关被配置成将多条数据线连接到数据驱动器，控制线驱动器被配置成将控制信号供给到第i条控制线，并且数据驱动器被配置成将初始化电压供给到多条数据线。

在一个实施例中，初始化电压是使有机发光二极管被截止的电压。

在根据本发明的实施例的有机发光显示设备中，有机发光二极管的劣化和/或驱动晶体管之间的偏差在像素的外部被补偿，使得可以提高(例如增加)显示质量。另外，在根据本发明的像素中，不管(以及无关于)第一电源ELVDD的电压降，流经驱动晶体管的电流被均匀地保持，使得可以提高显示质量。

附图说明

在下文中将参考附图更充分地描述示例实施例；然而，示例实施例可以以不同的形式体现，并且不应当被认为限于本文所提出的实施例。相反，提供这些实施例使得本公开将会是全面的和完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达示例实施例的范围。

在图中，为了图示清楚，尺寸可能被夸大了。贯穿全文，相同的附图标记指代相同的元件。

图1是图示根据本发明实施例的有机发光显示设备的视图；

图2是图示根据本发明实施例的开关单元和检测单元的视图；

图3A是图示根据本发明实施例的图2的检测电路的视图；

图3B是图示根据本发明另一实施例的图2的检测电路的视图；

图4是图示根据本发明实施例的像素的视图；

图5A是图示根据本发明实施例的在检测时段提取驱动晶体管的偏差信息的波形的视图；

图5B是图示根据本发明另一实施例的在检测时段提取驱动晶体管的偏差信息的波形的视图；

图6A是图示根据本发明实施例的在检测时段提取有机发光二极管(OLED)的劣化信息的波形的视图；

图6B是图示根据本发明另一实施例的在检测时段提取OLED的劣化信息的波形的另一实施例的视图；以及

图7是图示根据本发明实施例的在驱动时段供给到像素的波形的视图。

具体实施方式

在下文中将参考附图更充分地描述示例实施例；然而，示例实施例可以以不同的形式体现，并且不应当被认为限于本文所提出的实施例。相反，提供这些实施例使得本公开将会是全面的和完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达示例实施例的范围。

在图中，为了图示清楚，尺寸可能被夸大了。贯穿全文，相同的附图标记指代相同的元件。

图1是图示根据本发明实施例的有机发光显示设备的视图。

参考图1，根据本发明实施例的有机发光显示设备包括：位于由扫描线S1至Sn、控制线CL1至CLn和数据线D1至Dm限定(例如划分)的区域中的像素140；用于驱动扫描线S1至Sn的扫描驱动器110；用于驱动控制线CL1至CLn的控制线驱动器160；用于驱动数据线D1至Dm的数据驱动器120；以及用于控制扫描驱动器110、数据驱动器120和控制线驱动器160的时序控制器150。

另外，根据本发明的实施例的有机发光显示设备包括：用于提取包括在像素140中的有机发光二极管(OLED)的劣化信息和/或包括在像素140中的驱动晶体管的偏差信息的检测单元(例如检测器)180；用于将数据线D1至Dm连接到检测单元180和/或数据驱动器120的开关单元(例如开关或开关网络)170；以及用于通过使用劣化信息和/或偏差信息改变第一数据Data1的比特并生成第二数据Data2的转换单元(例如转换器)190。

根据本发明的实施例的有机发光显示设备在检测时段和驱动时段被驱动。在检测时段，包括在像素140中的OLED的劣化信息和/或包括在像素140中的驱动晶体管的偏差信息被提取。在驱动时段，图像(例如预设或预定图像)被显示。

扫描驱动器110在检测时段和驱动时段响应于时序控制器150的控制，将扫描信号供给到扫描线S1至Sn。例如，扫描驱动器110可以将扫描信号顺序地供给到扫描线S1至Sn。当扫描信号被顺序地供给到扫描线S1至Sn时，像素140以水平线为单位被选择(即，电连接到同一扫描线的像素140被选择)。这里，扫描信号被设置成具有使得包括在像素140中的晶体管导通的栅极导通电压。

控制线驱动器160在检测时段响应于时序控制器150的控制，将控制信号供给到控制线CL1至CLn。例如，控制线驱动器160可以将控制信号顺序地供给到控制线CL1至CLn。这里，控制信号被设置成具有使得包括在像素140中的晶体管导通的栅极导通电压。

数据驱动器120在提取驱动晶体管的偏差信息的检测时段将基准数据信号供给到数据线D1至Dm。基准数据信号被设置成具有在其下电流可以流经驱动晶体管的电压，并且可以被设置为可由数据驱动器120供给的数据信号中的一个。

数据驱动器120在提取有机发光二极管的劣化信息的检测时段将检测数据信号供给到数据线D1至Dm。检测数据信号可被设置为对应于黑色灰度值的使得驱动晶体管可被截止的数据信号。

数据驱动器120在驱动时段接收第二数据Data2，并通过使用所接收的第二数据Data2生成数据信号。由数据驱动器120生成的数据信号被供给到数据线D1至Dm。供给到数据线D1至Dm的数据信号被供给到由扫描信号选择的像素140，并且像素140响应于数据信号而生成具有预设或预定亮度分量(颜色)的光分量(颜色)。

像素单元(像素阵列)130指的是在其中图像被显示的有效显示区域。像素单元130包括位于由扫描线S1至Sn、数据线D1至Dm和控制线CL1至CLn限定(例如划分)的区域中的像素140。

像素140从外部接收第一电源ELVDD和第二电源ELVSS。当供给扫描信号时，对应的像素140被选择并且存储对应于数据信号的电压。像素140响应于数据信号而控制从第一电源ELVDD经由有机发光二极管供给到第二电源ELVSS的电流量。这里，像素140控制流到有机发光二极管的电流量，而不管第一电源ELVDD的电压降。

开关单元170在驱动时段将数据线D1至Dm连接到数据驱动器120。然后，在驱动时段，数据信号从数据驱动器120供给到数据线D1至Dm。另外，开关单元170在检测时段将数据线D1至Dm连接到数据驱动器120或检测单元180。

检测单元180在检测时段提取包括在像素140中的有机发光二极管的劣化信息和/或包括在像素140中的驱动晶体管的偏差信息，将所提取的信息转换成数字值(或多个数字值)，并且将数字值(多个数字值)存储在存储器中。驱动晶体管的偏差信息指的是包括驱动晶体管的阈值电压和迁移率的信息。

转换单元190响应于来自检测单元180的劣化信息和/或偏差信息(例如响应于数字值(多个数字值))，改变从时序控制器150输入的第一数据Data1的比特，并且生成第二数据Data2。这里，第二数据Data2被设置为使得有机发光二极管的劣化和/或驱动晶体管的偏差被补偿。由转换单元190生成的第二数据Data2供给到数据驱动器120。

时序控制器150控制扫描驱动器110、数据驱动器120和控制线驱动器160。然后，时序控制器150重组从外部供给的第一数据Data1，并且将重组后的第一数据Data1供给到转换单元190。

在图1中，图示了检测单元180和转换单元190被定位在时序控制器150的外部。然而，本发明不限于此。例如，检测单元180和转换单元190可以被定位在时序控制器150中。

图2是图示根据本发明实施例的开关单元170和检测单元180的视图。在图2中，为了便于说明，图示了连接到第m条数据线Dm的结构。

参考图2，开关单元170包括位于每个通道中的第一开关SW1和第二开关SW2。也就是说，第一开关SW1和第二开关SW2连接到数据线D1至Dm中的每一条。

第一开关SW1位于数据驱动器120和数据线Dm之间。第一开关SW1在驱动时段保持导通状态。然后，第一开关SW1和第二开关SW2在检测时段被交替导通和截止。

第二开关SW2位于检测单元180和数据线Dm之间。第二开关SW2在驱动时段保持截止状态。然后，第二开关SW2和第一开关SW1在检测时段被交替导通和截止。另外，第一开关SW1和第二开关SW2可以响应于时序控制器150的控制而被导通和截止。

检测单元180包括检测电路181、模数转换器(在下文中被称为ADC)182和存储器183。

检测电路181将来自像素140的劣化信息和/或偏差信息供给到ADC 182。这里，检测电路181将作为电流供给的劣化信息和/或偏差信息改变成电压，并且可以将该电压供给到ADC 182。另外，检测电路181可以将基准电压或基准电流供给到数据线Dm，使得可以从像素140提取劣化信息。在每个通道中可以使用单独的检测电路181，或者可由多个通道共享同一检测电路181。

ADC 182将从检测电路181供给的劣化信息和/或偏差信息改变成数字值(多个数字值)，并且将数字值(多个数字值)供给到存储器183。在每个通道中可以使用单独的ADC 182，或者可由多个通道共享ADC 182。

存储器183存储从ADC 182供给的数字值(多个数字值)。例如，像素140的劣化信息和偏差信息可以作为数字值(多个数字值)被存储在存储器183中。

转换单元190通过使用存储在存储器183中的数字值(多个数字值)改变第一数据Data1的比特，使得有机发光二极管的劣化和/或驱动晶体管的偏差可以被补偿，并且转换单元190生成第二数据Data2。

图3A是图示根据本发明实施例的图2的检测电路的视图。

参考图3A，检测电路181包括电流供给单元(例如电流源)1811、检测电阻器Rs、第三开关SW3和第四开关SW4。

电流供给单元1811在提取有机发光二极管的劣化信息的时段经由第三开关SW3和第二开关SW2将基准电流供给到数据线Dm。供给到数据线Dm的基准电流被供给到由控制信号选择的像素140的有机发光二极管。此时，预设或预定电压被施加到有机发光二极管，并且作为劣化信息的电压被供给到ADC 182。基准电流是供给到有机发光二极管的电流，并且其电流值可通过实验确定。例如，基准电流可以被设置成具有对应于白色灰度值的电流值。

第三开关SW3在提取有机发光二极管的劣化信息的时段被导通。

第四开关SW4和检测电阻器Rs连接在第二开关SW2和第四电源VSS(例如接地电源)之间。

第四开关SW4在提取驱动晶体管的偏差信息的检测时段被导通。当第四开关SW4被导通时，作为偏差信息的电流从数据线Dm供给到检测电阻器Rs，使得预设或预定电压被施加到检测电阻器Rs。被施加到检测电阻器Rs的电压作为偏差信息被供给到ADC 182。

另外，当不对有机发光二极管的劣化信息进行补偿时，电流供给单元1811和第三开关SW3可以被移除。当电流值由ADC 182转换成数字值时，第四开关SW4和检测电阻器Rs可以被移除。第三开关SW3和第四开关SW4可以响应于时序控制器150的控制而被导通或截止。

图3B是图示根据本发明另一实施例的图2的检测电路的视图。在图3B中，与图3A的元件相同的元件由相同的附图标记表示，并且其详细描述可以不再提供。

参考图3B，检测电路181包括基准电压源Vref、检测电阻器Rs、第三开关SW3和第四开关SW4。

基准电压源Vref在提取有机发光二极管的劣化信息的时段经由第三开关SW3和第二开关SW2将基准电压供给到数据线Dm。供给到数据线Dm的基准电压被供给到由控制信号选择的像素140的有机发光二极管。此时，预设或预定电流流过有机发光二极管，并且作为劣化信息的电流被供给到ADC 182。基准电压源Vref的电压值被设置为使得电流可以流过有机发光二极管。

第四开关SW4可以在检测时段被导通。当第四开关SW4被导通时，作为劣化信息和/或偏差信息的电流从数据线Dm供给到检测电阻器Rs，使得预设或预定电压被施加到检测电阻器Rs。作为劣化信息和/或偏差信息供给到检测电阻器Rs的电压被供给到ADC 182。

另外，当不对有机发光二极管的劣化信息进行补偿时，基准电压源Vref和第三开关SW3可以被移除。

图4是图示根据本发明实施例的像素的视图。在图4中，为了便于说明，图示了连接到第m条数据线Dm和第n条扫描线Sn的像素。

参考图4，根据本发明的像素140包括有机发光二极管OLED和用于将电流供给到有机发光二极管OLED的像素电路142。

有机发光二极管OLED的阳极连接到像素电路142，并且其阴极连接到第二电源ELVSS。有机发光二极管OLED响应于从像素电路142供给的电流量生成具有预设或预定亮度的光。

像素电路142响应于数据信号而控制从第一电源ELVDD经由有机发光二极管OLED流到第二电源ELVSS的电流量。为了这个目的，像素电路142包括第一晶体管M1至第四晶体管M4以及存储电容器Cst。在一些示例中，第一晶体管M1至第四晶体管M4由n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)(NMOS)构成。第二电源ELVSS被设置成具有比第一电源ELVDD低的电压。

第一晶体管M1(即驱动晶体管)的第一电极连接到第一电源ELVDD，其第二电极连接到有机发光二极管OLED的阳极，并且其栅电极连接到第一节点N1。第一晶体管M1响应于第一节点N1的电压而控制从第一电源ELVDD经由有机发光二极管OLED流到第二电源ELVSS的电流量。

第二晶体管M2的第一电极连接到数据线Dm，其第二电极连接到第一节点N1，并且其栅电极连接到扫描线Sn。第二晶体管M2在扫描信号供给到扫描线Sn时被导通，使得数据线Dm和第一节点N1电连接。

第三晶体管M3的第一电极连接到有机发光二极管OLED的阳极，其第二电极连接到第三电源Vsus，并且其栅电极连接到扫描线Sn。第三晶体管M3在扫描信号供给到扫描线Sn时被导通，并且将第三电源Vsus的电压供给到有机发光二极管OLED的阳极。这里，第三电源Vsus被设置成具有有机发光二极管OLED在其下可以被截止的电压。例如，第三电源Vsus可以被设置成具有与第二电源ELVSS相同或基本相同的电压。当第三电源Vsus被设置成具有与第二电源ELVSS相同或基本相同的电压时，第三电源Vsus被移除，并且第三晶体管M3可连接到第二电源ELVSS。

第四晶体管M4的第一电极连接到有机发光二极管OLED的阳极，其第二电极连接到数据线Dm，并且其栅电极连接到控制线CLn。第四晶体管M4在控制信号供给到控制线CLn时被导通，并且电连接数据线Dm和有机发光二极管OLED的阳极。

存储电容器Cst连接在第一节点N1和有机发光二极管OLED的阳极之间。存储电容器Cst存储对应于数据信号的电压。

图5A是图示根据本发明实施例的在检测时段提取驱动晶体管的偏差信息的波形的视图。在图5A中，将通过使用连接到第m条数据线Dm和第n条扫描线Sn的像素进一步描述操作过程。

参考图5A，首先，在第一时段T1，第一开关SW1被导通，并且扫描信号被供给到扫描线Sn。

当扫描信号被供给到扫描线Sn时，第二晶体管M2和第三晶体管M3被导通。当第二晶体管M2被导通时，数据线Dm和第一节点N1电连接。当第三晶体管M3被导通时，第三电源Vsus的电压被供给到有机发光二极管OLED的阳极。

当第一开关SW1被导通时，数据驱动器120和数据线Dm电连接。然后，来自数据驱动器120的基准数据信号RDS经由数据线Dm被供给到像素140的第一节点N1。

当基准数据信号RDS被供给到第一节点N1时，存储电容器Cst充入基准数据信号RDS和第三电源Vsus之间的差值电压。这里，接收基准数据信号RDS的第一晶体管M1被设置为导通状态。在第一时段T1，从第一晶体管M1供给的电流经由第三晶体管M3被供给到第三电源Vsus，使得有机发光二极管OLED保持非发射状态。

在第二时段T2，第二开关SW2被导通，并且控制信号被供给到控制线CLn。

当控制信号被供给到控制线CLn时，第四晶体管M4被导通。当第四晶体管M4被导通时，有机发光二极管OLED的阳极和数据线Dm电连接。

当第二开关SW2被导通时，检测单元180和数据线Dm电连接。然后，电流Is从第一晶体管M1经由第四晶体管M4被供给到检测单元180。此时，从第一晶体管M1供给的电流被用作第一晶体管M1的偏差信息。

在第二时段T2，从第一晶体管M1流过的电流Is响应于基准数据信号RDS来确定。此时，从第一晶体管M1流过的电流Is可以响应于基准数据信号RDS，根据包括在像素140中的第一晶体管M1的阈值电压和迁移率被不同地确定。也就是说，第一晶体管M1的阈值电压和迁移率被包括在在第二时段T2从第一晶体管M1流过的电流Is中。

在第二时段T2，检测电路181将从第一晶体管M1供给的电流Is改变成电压，并且将该电压供给到ADC 182。ADC 182将从检测电路181供给的电流Is或电压改变成作为偏差信息的数字值，并且将改变的数字值供给到存储器183。存储器183存储由ADC 182供给的作为对应像素的偏差信息的数字值。

根据本发明，重复上述过程，并且像素140的偏差信息被存储在存储器183中。

另外，在有机发光显示设备被正向偏置(例如发送或导通)之前，可以包括至少一次在其中偏差信息被提取的检测时段。另外，在有机发光显示设备被正向偏置(例如发送)之后，可以每设定的时间段(例如预定时间)包括检测时段。

图5B是图示根据本发明另一实施例的在检测时段提取驱动晶体管的偏差信息的波形的视图。在图5B中，与图5A的元件相同的元件的详细描述可以不再提供。

参考图5B，根据本发明的另一实施例，在第一时段T1和第二时段T2之间增加初始化时段。

在初始化时段，第一开关SW1被导通，控制信号被供给到控制线CLn。

当控制信号被供给到控制线CLn时，第四晶体管M4被导通。当第四晶体管M4被导通时，有机发光二极管OLED的阳极和数据线Dm电连接。

当第一开关SW1被导通时，数据驱动器120和数据线Dm电连接。然后，来自数据驱动器120的初始化电压Vint经由数据线Dm被供给到有机发光二极管OLED的阳极。此时，数据线Dm和有机发光二极管OLED的阳极被初始化电压Vint初始化。

也就是说，在用于初始化数据线Dm的初始化时段，通道之间的偏差被移除。也就是说，在初始化时段，数据线Dm和有机发光二极管OLED的阳极被初始化为初始化电压Vint，使得在第二时段T2从第一晶体管M1供给的电流可以供给到检测单元180，而不管(以及无关于)通道之间的偏差。另外，为了防止或基本上防止光的不期望的发射，初始化电压Vint可被设置为在其下有机发光二极管OLED截止的电压。

图6A是图示根据本发明实施例的在检测时段提取有机发光二极管(OLED)的劣化信息的波形的视图。在图6A中，将通过使用连接到第m条数据线Dm和第n条扫描线Sn的像素描述操作过程。

参考图6A，首先，在第一时段T1'，第一开关SW1被导通，并且扫描信号被供给到扫描线Sn。

当扫描信号被供给到扫描线Sn时，第二晶体管M2和第三晶体管M3被导通。当第二晶体管M2被导通时，数据线Dm和第一节点N1电连接。当第三晶体管M3被导通时，第三电源Vsus的电压被供给到有机发光二极管OLED的阳极。

当第一开关SW1被导通时，数据驱动器120和数据线Dm电连接。然后，来自数据驱动器120的检测数据信号SDS经由数据线Dm被供给到像素140的第一节点N1。

当检测数据信号SDS被供给到第一节点N1时，存储电容器Cst充入检测数据信号SDS和第三电源Vsus之间的差值电压。这里，检测数据信号SDS被设置为具有在其下第一晶体管M1被截止的与电压的黑色灰度值对应的数据信号。因此，当检测数据信号SDS被供给到第一节点N1时，第一晶体管M1被设置为截止状态。

在第二时段T2'，第二开关SW2被导通，并且控制信号被供给到控制线CLn。

当控制信号被供给到控制线CLn时，第四晶体管M4被导通。当第四晶体管M4被导通时，有机发光二极管OLED的阳极和数据线Dm电连接。

当第二开关SW2被导通时，检测单元180和数据线Dm电连接。此时，检测电路181将来自基准电压源Vref的基准电压或来自电流供给单元1811的基准电流供给到数据线Dm。供给到数据线Dm的基准电压或基准电流被供给到有机发光二极管OLED的阳极。

当基准电压被供给到数据线Dm时，对应于基准电压的预设或预定电流流到有机发光二极管OLED，并且作为劣化信息的电流被供给到检测电路181。当基准电流被供给到数据线Dm时，对应于基准电流的预设或预定电压被施加到有机发光二极管OLED，并且作为劣化信息的电压被供给到检测电路181。

在第二时段T2'，检测电路181接收作为劣化信息的预设或预定电压或者预设或预定电流，并且将所接收的电压或电流供给到ADC 182。这里，检测电路181将被供给到其的电流改变成电压，并且将电压供给到ADC 182。ADC 182将从检测电路181供给的、作为劣化信息的电流或电压改变成数字值，并且将改变的数字值供给到存储器183。存储器183存储由ADC 182供给的、作为对应像素的劣化信息的数字值。

根据本发明，重复上述过程，并且像素140中的每一个的劣化信息被存储在存储器183中。

另外，在有机发光显示设备被正向偏置(例如发送)之前，可以包括至少一次在其中劣化信息被提取的检测时段。另外，在有机发光显示设备被正向偏置(例如发送)之后，可以每设定的时间段(例如预定时间)包括检测时段。

图6B是图示根据本发明另一实施例的在检测时段提取OLED的劣化信息的波形的视图。在图6B中，与图6A的元件相同的元件的详细描述可以不再提供。

参考图6B，根据本发明的另一实施例，在第一时段T1'和第二时段T2'之间增加初始化时段。

在初始化时段，第一开关SW1被导通，并且控制信号被供给到控制线CLn。

当控制信号被供给到控制线CLn时，第四晶体管M4被导通。当第四晶体管M4被导通时，有机发光二极管OLED的阳极和数据线Dm电连接。

当第一开关SW1被导通时，数据驱动器120和数据线Dm电连接。然后，来自数据驱动器120的初始化电压Vint经由数据线Dm被供给到有机发光二极管OLED的阳极。在用于将数据线Dm初始化成初始化电压Vint的初始化时段，通道之间的偏差被移除。

图7是图示根据本发明实施例的在驱动时段供给到像素的波形的视图。在图7中，将通过使用连接到第m条数据线Dm和第n条扫描线Sn的像素描述操作过程。

参考图7，在驱动时段，第一开关SW1保持导通状态，并且第二开关SW2保持截止状态。

在驱动时段，转换单元190响应于存储在存储器183中的数字值(多个数字值)(即偏差信息和/或劣化信息)改变第一数据Data1的比特，并且生成第二数据Data2。

在驱动时段，数据驱动器120通过使用第二数据Data2生成数据信号DS。然后，接收数据信号DS的像素140可以实现具有期望亮度分量的灰度值，而不管(以及无关于)第一晶体管M1之间的偏差和/或有机发光二极管OLED的劣化。

在驱动时段，当扫描信号被供给到扫描线Sn时，第二晶体管M2和第三晶体管M3被导通。当第三晶体管M3被导通时，第三电源Vsus的电压被供给到有机发光二极管OLED的阳极。当第二晶体管M2被导通时，来自数据线Dm的数据信号DS被供给到第一节点N1。此时，存储电容器Cst存储对应于数据信号DS的电压。此外，在其中扫描信号被供给到扫描线Sn的时段，响应于数据信号DS而从第一晶体管M1供给的电流被供给到第三电源Vsus，使得有机发光二极管OLED保持截止状态。

当停止将扫描信号供给到扫描线Sn时，第二晶体管M2和第三晶体管M3被截止。然后，来自第一晶体管M1的电流响应于数据信号DS被供给到有机发光二极管OLED，使得有机发光二极管OLED响应于数据信号DS而发光。

另外，当有机发光二极管OLED发光时，有机发光二极管OLED的阳极的电压从第三电源Vsus的电压改变成预设或预定电压。例如，有机发光二极管OLED的阳极的电压可以响应于第一电源ELVDD的电压值而改变。

此时，因为第一节点N1被设置成电浮置，充入存储电容器Cst的电压保持在前一时段的电压(即电压Vgs被保持)。因此，根据本发明，第一电源ELVDD的电压降对第一晶体管M1的电流的影响被减小或最小化，使得可以实现期望的灰度值。

根据本发明，重复上述过程，并且对应于数据信号DS的灰度值由像素140实现(表示)。另外，根据本发明，可以实现灰度值，而不管(以及无关于)有机发光二极管OLED的劣化和/或第一晶体管M1之间的偏差以及第一电源ELVDD的电压降，使得可以提高显示质量。

根据本发明，有机发光二极管OLED可以响应于从驱动晶体管供给的电流量生成包括红色、绿色和蓝色光分量的各种光分量(颜色)。然而，本发明不限于此。例如，有机发光二极管OLED可以响应于从驱动晶体管供给的电流量生成白色光。在这种情况下，可以通过使用附加滤色器(或多个附加滤色器)实现彩色图像。

将理解的是，虽然术语“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用来描述各种元件、部件、区域、层和/或部分，但是这些元件、部件、区域、层和/或部分不应该受这些术语的限制。这些术语仅用来区分一个元件、部件、区域、层或部分与另一元件、部件、区域、层或部分。因此，下面讨论的第一元件、部件、区域、层或部分可以被称为第二元件、部件、区域、层或部分，而不脱离发明构思的精神和范围。

本文使用的术语仅用于描述特定的实施例，并且不旨在限制发明构思。如本文所使用的，单数形式的“一”和“一个”旨在也包括复数形式，除非上下文另有明确说明。将进一步理解的是，当在此说明书中使用时，术语“包括”和/或“包含”表明存在所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件，但不排除存在或添加一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或它们的组。如本文所使用的，术语“和/或”包括相关联的所列项目的一个或多个的任意和所有组合。当放在一列元件之前时，诸如“至少一个”的表述修饰整列元件，而不是修饰该列中的单独元件。进一步，当描述发明构思的实施例时，使用“可以”指的是“发明构思的一个或多个实施例”。

将理解的是，当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“连接到”、“联接到”或“邻近于”另一元件或层时，它可以直接在另一元件或层上，直接连接到、联接到或邻近于另一元件或层，或者可以存在一个或多个中间元件或中间层。当元件或层被称为“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接到”、“直接联接到”或“紧邻”另一元件或层时，不存在中间元件或中间层。

如本文所使用的，术语“基本上”、“大约”和类似术语用作近似的术语，而不是作为程度的术语，并且旨在考虑本领域普通技术人员公认的在测量或计算的值中的内在变型。

如本文所使用的，术语“使用”、“正使用”和“被用来”可以被认为分别和术语“利用”、“正利用”和“被利用来”同义。

根据本文中描述的本发明的实施例的显示设备和/或任何其它相关设备或部件可以利用任何合适的硬件、固件(例如专用集成电路)、软件、或软件、固件和硬件的合适的组合来实现。例如，显示设备的各种部件可以形成在一个集成电路(IC)芯片上或单独的IC芯片上。进一步，显示设备的各种部件可以在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上实现，或者形成在同一基板上。进一步，显示设备的各种部件可以是一个或多个计算设备中的、执行计算机程序指令并与其它系统部件交互的一个或多个处理器上运行的、用于实施本文描述的各种功能的进程或线程。计算机程序指令存储在可使用标准存储器设备在计算设备中实现的存储器中，例如随机存取存储器(RAM)。计算机程序指令还可以存储在其它非瞬态计算机可读介质中，例如CD-ROM、闪存驱动器等。此外，本领域技术人员应认识到各种计算设备的功能可以组合或集成到单个计算设备，或特定计算设备的功能可以跨一个或多个其它计算设备分布，而不脱离本发明的示例实施例的范围。

在本文中已经公开了示例实施例，尽管使用了特定的术语，但它们仅以一般和描述性的意思被使用和解释，而不是为了限制的目的。在某些情况下，如对提交本申请的领域内的普通技术人员来说将是显而易见的，结合特定实施例描述的特征、特性和/或元件可以单独使用，或者可以和结合其它实施例描述的特征、特性和/或元件组合使用，除非另有明确说明。因此，本领域技术人员将理解，可以在不脱离如以下权利要求及其等同方案中提出的本发明的精神和范围的情况下对形式和细节进行各种改变。