本发明涉及高阻抗测量技术领域，特别涉及一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法。
背景技术：
液晶屏是以液晶材料为基本组件，由于液晶是介于固态和液态之间，液晶屏不但具有固态晶体光学特性，又具有液态流动特性，这些特性也会有产生较高阻抗，所以对液晶屏高阻抗测量越来越受到研究学者的兴趣。
现有的测试gamma通过牛角连接ni测试，由于电器产品越来越节能，液晶面板部分也是小功耗，要求液晶需求电流小，线路设计gma电阻部分阻值变大，由原有的几百欧姆到现在千欧级，ni采集时内阻为1m欧姆，在量测时vgma电阻达到千欧姆以上时，ni会消耗耗一部分功率，导致量测数据低于spec，从而造成测量的不精确，存在一定的局限性，为此，我们提出一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，现有现有的测试gamma通过牛角连接ni测试，由于电器产品越来越节能，液晶面板部分也是小功耗，要求液晶需求电流小，线路设计gma电阻部分阻值变大，由原有的几百欧姆到现在千欧级，ni采集时内阻为1m欧姆，在量测时vgma电阻达到千欧姆以上时，ni会消耗耗一部分功率，导致量测数据低于spec，从而造成测量的不精确，存在一定的局限性的问题。
为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明为一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，所述低功率液晶屏包括终端和测试端，所述终端包括至少两个终端阵列点，所述测试端包括至少四个测试阵列点；
所述测量方法包括：
提供若干第一导线，将所述终端的至少两个终端阵列点依次串联成串联电路，所述导线在与各个所述终端结合处形成结合点；
提供一自制电路，将所述自制电路包括：gammapad、运算放大器、lm324、牛角以及ni采集卡；
提供一导电板，将所述测试端与pad通过导电板电性连接：
提供若干第二导线，将所述gammapad与lm324通过第二导线电性连接；
提供若干第三导线，将所述lm324与牛角通过第三导线电性连接，所述牛角包括牛角线，将lm324与ni采集卡通过牛角线连接；
所述ni采集卡采集阻抗数值。
优选地，所述第一导线以及第二导线均为标准导线，两条所述第一导线的长度之和等于两条所述的长度之和。
优选地，待测板测试的所述gammapad为pcbgma。
优选地，所述运算放大器为高阻抗输入，低阻抗输出。
优选地，所述lm324通过layoutpcb然后固定在治具一表面，所述lm324一颗可以支援个gamma点，所述layout的板子最多支援个通道。
优选地，所述牛角的绝缘电阻为10mω，机械操作的最大速度为10mm/s，间隔时间不插合时为30s。
优选地，所述牛角线为条形标准线，导电率为99％以上。
优选地，所述ni采集卡利用差分测试系统进行数据的采集。
与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
本发明中，通过在牛角与gammapad连接中间增加运算放大器，将高阻抗转换为低阻抗进行采集测试，增加了精确度，使量测数据不低于spec。
附图说明
图1为本发明低功率液晶屏gamma高阻抗测量装置的整体结构示意图；
图2为本发明低功率液晶屏gamma高阻抗测量装置正视结构示意图。
图中：100、低功率液晶屏；110、终端；111、终端阵列点；120、测试端；121、测试阵列点；200、自制电路；210、gammapad；220、运算放大器；230、lm324；240、牛角；241、牛角线；250、ni采集卡；300、导线；400、导电板；500、第二导线；600、第三导线。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例一：
请参照图1—2所示，本发明为一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，低功率液晶屏100包括终端110和测试端120，终端110包括至少两个终端阵列点111，测试端120包括至少四个测试阵列点121；
测量方法包括：
提供若干第一导线300，将终端110的至少两个终端阵列点111依次串联成串联电路，导线300在与各个终端110结合处形成结合点；
提供一自制电路200，将自制电路200包括：gammapad210、运算放大器220、lm324230、牛角240以及ni采集卡250；
提供一导电板400，将测试端120与pad210通过导电板400电性连接：
提供若干第二导线500，将gammapad210与lm324230通过第二导线500电性连接；
提供若干第三导线600，将lm324230与牛角240通过第三导线600电性连接，牛角240包括牛角线241，将lm324230与ni采集卡250通过牛角线241连接；
ni采集卡250采集阻抗数值。
进一步地，第一导线300以及第二导线500均为标准导线，两条第一导线300的长度之和等于两条的长度之和。
进一步地，待测板测试的gammapad210为pcbgma。
进一步地，运算放大器220为高阻抗输入，低阻抗输出。
进一步地，lm324230通过layoutpcb然后固定在治具一表面，lm324一颗可以支援4个gamma点，layout的板子最多支援16个通道。
进一步地，牛角240的绝缘电阻为10mω，机械操作的最大速度为10mm/s，间隔时间不插合时为30s。
进一步地，牛角线241为条形标准线，导电率为99％以上。
进一步地，ni采集卡250利用差分测试系统进行数据的采集。
实施例二：
本发明为一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，高阻抗gamma增加lm324追随器进行电压放大比较,电压隔离器输出电压近似输入电压幅度，并对前级电路呈高阻状态，对后级电路呈低阻状态，因而对前后级电路起到隔离作用,电压跟随器常用作中间级，以隔离前后级之间的影响，此时称之为缓冲级，基本原理利用它的输入阻抗高和输出阻抗低之特点。其中输入电阻ri≈∞，输出电阻ro≈0，输出电压uo≈输入电压ui。
实施例三：
针对于本发明一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，低功率液晶屏100包括终端110和测试端120，终端110包括至少两个终端阵列点111，测试端120包括至少四个测试阵列点121；测量方法包括：提供若干第一导线300，将终端110的至少两个终端阵列点111依次串联成串联电路，导线300在与各个终端110结合处形成结合点；提供一自制电路200，将自制电路200包括：gammapad210、运算放大器220、lm324230、牛角240以及ni采集卡250；提供一导电板400，将测试端120与pad210通过导电板400电性连接：提供若干第二导线500，将gammapad210与lm324230通过第二导线500电性连接；lm324230通过layoutpcb然后固定在治具一表面，lm324230一颗可以支援4个gamma点，layout的板子最多支援16个通道，当grr小于10％，系统是可以接受的，grr在10％-30％之间，根据应用的重要性和改进的成本进行分析和作出的最大贡献者；grr超过30％，则测量系统是不可接受的，纠正措施是强制性的。其余测试项目均正常，如下表grr选取的4个点数据，如下表所示：
表一为4组grr选取的4个点数据：
由表1可知，本发明导入lm324后测试的vgma电压和rd测试spec一致，且grr小于10％。
实施例四：
针对于本发明一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，第一导线300以及第二导线500均为标准导线，两条第一导线300的长度之和等于两条的长度之和，待测板测试的gammapad210为pcbgma，运算放大器220为高阻抗输入，低阻抗输出，牛角240的绝缘电阻为10mω，机械操作的最大速度为10mm/s，间隔时间不插合时为30s，牛角线241为条形标准线，导电率为99％以上，ni采集卡250利用差分测试系统进行数据的采集，本发明低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法精确度高，制得推广。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。