有机发光二极管显示装置及其亮度变化补偿方法
【技术领域】
[0001]本公开涉及具有用来补偿亮度变化的结构的有机发光二极管显示装置和补偿亮度变化的方法。
【背景技术】
[0002]有机发光二极管(OLED)显示装置以与液晶显示装置不同的方式从形成在基板上的各个元件直接发射光，进而OLED显示装置具有高响应速度和高对比度的优点。
[0003]然而，OLED显示面板由于形成OLED显示面板的元件(诸如薄膜晶体管和有机发射层)的变化而经受低亮度均匀性。
[0004]因此，对于OLED显示面板来说，需要使用亮度仪针对相同的色彩图案测量各个区域的亮度特性并且调节亮度以显示均匀亮度的步骤。因此，可能延长制造时间。
[0005]为了解决该问题，可以改进用来提高有机材料沉积的均匀性的工艺、用来减小阳极、有机材料和阴极当中的薄层电阻的工艺以及用来形成具有稳定变化的薄膜晶体管的工艺。然而，即使改进了这些工艺，有机材料的光发射亮度特性也随着时间的推移而变化，进而OLED显示面板具有不同的亮度特性。因此，可能需要用于亮度调节的测试步骤。
【发明内容】
[0006]因此，本发明致力于基本上消除了现有技术的局限和缺点的一种具有用来补偿亮度变化的结构的有机发光二极管显示装置和一种补偿亮度变化的方法。
[0007]本发明的优点包括提供一种具有用来补偿亮度变化的结构的有机发光二极管显示装置和一种能够减小用于亮度补偿的工艺时间的补偿亮度变化的方法。
[0008]本发明的附加的特征和优点将在以下的说明书中阐述，并且将部分地从本说明书显而易见，或者可以通过本发明的实践学习到。本发明的这些和其它优点将由在所撰写的说明书及其权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0009]为了实现这些和其它优点并且根据本发明的目的，如本文所具体实现和广义描述的，一种有机发光二极管显示装置包括:包括显示区域中的多个像素的显示面板，各个像素包括开关薄膜晶体管、驱动薄膜晶体管和发光二极管，所述显示区域被划分成多个区域；二极管电流测量部，该二极管电流测量部电连接至各个像素的所述发光二极管并且测量各个所划分的区域的电流；定时控制部，该定时控制部基于所测量到的各个所划分的区域的电流来获得各个所划分的区域的增益值，并且利用该增益值生成经补偿的图像数据；选通驱动器，该选通驱动器向所述显示面板供应选通电压；以及数据驱动器，该数据驱动器向所述显示面板供应与所述经补偿的图像数据对应的数据电压。
[0010]在另一方面中，一种对有机发光二极管显示装置的亮度变化进行补偿的方法，其中，所述有机发光二极管显示装置包括显示面板，该显示面板包括显示区域中的多个像素，各个像素包括开关薄膜晶体管、驱动薄膜晶体管和发光二极管，所述显示区域被划分成第一区域至第N区域，该方法包括以下步骤:通过二极管电流测量部测量所述第一区域至第N区域当中的第η区域的电流；基于所测量到的所述第η区域的电流来获得增益值；以及利用所述增益值来调节图像数据信号。
【附图说明】
[0011]附图被包括以提供对本发明的进一步理解，并且被并入本说明书并构成本说明书的一部分，附图例示了本发明的实施方式，并且与本描述一起用来说明本发明的原理。附图中:
[0012]图1是例示了根据本发明的实施方式的OLED显示装置的框图；
[0013]图2是示出了根据现有技术通过使用亮度仪的亮度测量方法的结果的亮度的等值线图；
[0014]图3是示出了根据本发明的实施方式通过电流测量方法的结果的亮度的等值线图；以及
[0015]图4是例示了根据本发明的实施方式的补偿OLED显示装置的亮度变化的方法的算法。
【具体实施方式】
[0016]现在将详细地参照示例性实施方式，其示例被例示在附图中。相同的附图标记可以在所有附图中用来指代相同的或相似的部分。
[0017]图1是例示了根据本发明的实施方式的OLED显示装置的框图。
[0018]参照图1,该OLED显示装置包括定时控制部110、二极管电流测量部120、数据驱动器131、选通驱动器132和OLED显示面板130。
[0019]OLED显示面板130从数据驱动器131和选通驱动器132供应有电压，并且显示图像。OLED显示面板130包括开关薄膜晶体管、驱动薄膜晶体管和连接至形成在基板上的驱动薄膜晶体管的发光二极管。该发光二极管包括阳极和阴极。电力线电连接至驱动薄膜晶体管。
[0020]定时控制部110向数据驱动器131和选通驱动器132供应用来显示图像的信号。定时控制部I1连接至二极管电流测量部120并且测量施加于OLED显示面板130的各个区域的电流。
[0021]有关测量所施加的电流，定时控制部110可以将OLED显示面板130的显示区域划分成多个区域，其中各个区域具有预定尺寸。所划分的区域的数量可以根据初始设定增加或减少。随着所划分的区域的数量增加，更精确的亮度补偿是可能的。
[0022]在实施方式中，出于说明的目的，假定了 OLED显示面板130具有例如但不限于1920列和1080行的分辨率，并且被划分成矩阵形式的7列区域和5行区域，即，35个区域Tl 至 Τ35。
[0023]二极管电流测量部120用来测量OLED显示器中的发光二极管的电流。为此，二极管电流测量部120可以连接至驱动薄膜晶体管的阴极或源电极。
[0024]数据驱动器131和选通驱动器132通过来自定时控制部110的信号进行操作，然后选通驱动器132向与待测量的区域对应的选通线输出选通电压Vg，并且数据驱动器131向与待测量的区域对应的数据线输出数据电压Vdata。此外，电力电压ELVDD被输出给连接至像素区域的电力线。
[0025]定时控制部110可以具有存储部以存储所测量到的电流的值。
[0026]以上构造的OLED显示装置能够具有亮度，该亮度是基于由二极管电流测量部120测量到的电流而获得的，与由亮度仪实际测量到的亮度非常相似。以下参照图2和图3对此进行说明。
[0027]图2是示出了根据现有技术通过使用亮度仪的亮度测量方法的结果的亮度的等值线图，图3是示出了根据本发明的实施方式通过电流测量方法的结果的亮度的等值线图。
[0028]图2和图3的亮度的等值线图是相对于具有1920*1080的分辨率的OLED显示面板获得的。
[0029]通过获得与测量到的电流成比例的亮度做出图3的亮度的等值线图。总的来说，图3的亮度与图2的亮度是相当相似的。图2的亮度测量单位是5nit，然而图3的亮度单位是 2.5nit。
[0030]这表明由本实施方式的电流测量方法获得的亮度的结果与由实际的亮度测量方法获得的亮度的结果之间的差较小。例如，由亮度仪获得的图2的等值线210、220和230的形状和位置分别与由电流测量方法获得的图3的等值线310、320和330的形状和位置相似。
[0031]因为现有技术使用了使用昂贵的亮度仪的亮度测量方法，所以生产成本增加并且亮度测量时间被延长。
[0032]然而，本实施方式使用电流测量方法来获得与由现有技术获得的结果非常相似的结果。因此，本实施方式具有如下优点:亮度测量时间被缩短并且生产成本通过避免使用昂贵的亮度仪而减少。
[0033]图3的亮度的等值线图能够被用于OLED显示面板的亮度补偿，以下参照图4对此进行说明。
[0034]图4是例示了根据本发明的实施方式的补偿OLED显示装置的亮度变化的方法的算法。
[0035]参照图4，OLED显示装置通过第一步骤SI至第五步骤S5执行亮度补偿。
[0036]在第一步骤SI中，执行针对亮度测量的区域划分。例如，如图1所示，区域划分将OLED显示面板的显示区域划分成7列和5行上的35个区域Tl至T35。
[0037]为了测量第一区域Tl，数据驱动器131对第一区域Tl