量按照显示装置的驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的变化而变化；以及
[0033]图5和6图示出按照本发明实施例的有机发光显示装置驱动方法，其分别示出时间步长(time step)补偿方法和反馈补偿方法。
【具体实施方式】
[0034]现在详细描述本发明的示例性实施方式，附图中图解了这些实施方式的一些实例。尽可能地，在附图中使用相同的附图标记表示相同或相似的部件。
[0035]在本发明实施例的相关解释中，对术语应当按如下理解。
[0036]如果在上下文中没有具体定义，那么单数表达的术语应当理解为包括复数表达以及单数表达。如果使用诸如“第一”和“第二”的术语，那么其仅仅用于元件之间的彼此区分。因此，权利要求书的范围不受这些术语的限制。
[0037]此外，应当理解的是，诸如“包括”或者“具有”的术语并不排除一个或多个特征、数字、步骤、操作、元件、部件或其组合的存在性或可能性。
[0038]应当理解的是，术语“至少一个”包括与任何一项相关的所有组合。例如，“第一元件、第二元件以及第三元件中的至少一个”既可以包括第一、第二和第三元件中选择的两个或更多个元件的组合，也可以包括第一、第二和第三元件的每个元件。
[0039]下文中，将参照附图，描述按照本发明实施例的一种有机发光显示装置及其驱动方法。
[0040]图4图示出按照本发明实施例的有机发光显示装置的驱动方法，其示出了电流量按照显示装置驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的变化而变化。图4-6的方法可以应用到图1所示的电路/结构或者应用到显示装置的其它合适的电路/结构，并且涵盖本发明的创造性特征。而且，这些方法可以应用于具有驱动TFT的各种显示装置或其它电子装置。按照本发明的显示装置包括各具有一个或多个驱动TFT的多个像素，以及本发明的方法应用于一个或多个这样的驱动TFT。可操作地耦合并配置本发明的显示装置。
[0041]在有机发光显示装置的驱动TFT(D-TFT，例如图1_6中的Tr3)的特性中，参照图4，流经驱动TFT的电流的变化量随着驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的变化而变化。而且，当驱动TFT的源极电压增加时，漏极-源极电压(Vds)的电位差由于被驱动的驱动TFT漏极电压而减小。即，如果驱动TFT的源极电压增加，那么驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)将成比例减小。
[0042]在按照本发明实施例的有机发光显示装置驱动方法中，通过基准电压(Vref)的电荷值的反馈而增加驱动TFT漏极上所施加的漏极电压(Vdd)。将Vdd当做高电压线，而Vss当做低电压线。结果，驱动TFT(D-TFT)的漏极-源极电压(Vds)可以保持恒定，从而可以提高利用所述电压的测量的准确性。
[0043]参照图1，将描述按照本发明实施例的有机发光显示装置的像素结构，以及按照本发明的有机发光显示装置中像素特性的感测方法。即，本发明的创造性特征和方法能够应用于图1的电路/结构。
[0044]在按照本发明实施例的显示装置的有机发光二极管(OLED)面板上，具有多条栅线(GL)、多条感测信号线(SL)、多条彼此平行的数据线(DL)、多条驱动电源线(PL)以及多条基准线(RL)，其中通过所述多条栅线(GL)和数据线(DL)限定多个像素。
[0045]每个像素可以包括有机发光二极管(OLED)，以及用于使有机发光二极管(OLED)发光的像素电路(PC)。
[0046]可以在OLED面板的第一方向(例如，水平方向)上彼此平行地形成多条栅线(GL)和感测信号线(SL)。在该情况下，从栅极驱动器施加扫描信号(扫描/栅极驱动信号，例如图1-6中的SCANl、SCAN2)到栅线(GL)，且从栅极驱动器施加感测信号(sense)到感测信号线(SL)。
[0047]在OLED面板的第二方向(例如，垂直方向)上形成多条数据线(DL)。多条数据线(DL)可以垂直于多条栅线(GL)和感测信号线(SL)布置。
[0048]驱动电压(VDD)从数据驱动器施加到数据线(DL)。该情况下，可通过按照视频信号将用于补偿驱动TFT的特性变化的补偿电压(Vth，k)添加到数据电压(Vdata)上而获得所述驱动电压(VDD)。
[0049]可以在有机发光显示装置的开机时刻或者显示图像的驱动周期，执行利用补偿数据的驱动TFT特性(阈值电压(Vth)、迀移率(k))补偿。而且，可以在有机发光显示装置的关机时刻，执行驱动TFT特性(阈值电压(Vth)、迀移率(k))补偿。
[0050]多条基准线(RL)可以与多条数据线(DL)平行设置。可以从数据驱动器选择性地向基准线(RL)提供显示基准电压(Vref)。在该情况下，可以为每个像素⑵的数据充电周期，向每条基准线(RL)提供显示基准电压(Vref)。
[0051]像素电路(PC)可以包括第一开关TFT(ST1，例如图1中的Trl)、第二开关TFT(ST2，例如图1中的Tr2)、驱动TFT(DT，例如图1-6中的Tr3)以及电容器(Cst)。在该情况下，TFT(ST1、ST2、DT)可以是 P 型 TFT，例如 a_Si TFT、poly_Si TFT、氧化物 TFT、有机TFT等等。然而TFT并不限于P型。上述TFT(ST1、ST2、DT)可以是N型TFT。即，按照本发明，包括驱动TFT的TFT可以是N型、P型或者其他形式，例如图5-6的实例。例如，尽管如图5-6示出N型驱动TFT，但如果采用P型驱动TFT替代，那么来自Vdd电压线的Vdd将直接施加到驱动TFT (例如，Tr3)的源极端，并且OLED将直接连接在驱动TFT (Tr3)的漏极端和Vss电压线之间。
[0052]对于显示周期，数字模拟转换器(DAC)将数据视频数据转换为模拟数据电压(Vdata)，并随后将模拟数据电压(Vdata)提供到每个像素。
[0053]对于感测周期，模拟数字转换器(ADC)将每个像素中感测到的模拟感测值转换为数字感测数据，并随后将数字感测数据提供给显示装置的时序控制器。
[0054]数据驱动器的数字模拟转换器(DAC)向每个像素的数据线提供驱动电压(VDD)，所述驱动电压(VDD)是通过按照视频信号将补偿电压(Vth，k)添加到数据电压(Vdata)上而获得的。在该情况下，可以通过将对应于相应像素⑵的驱动TFT(DT)的特性变化的补偿电压添加到数据电压(Vdata)上而获得驱动电压(VDD)的电压电平。
[0055]在采用有机发光显示装置制造的产品出厂之前或在任何理想的时间，按照本发明，其需要使用本发明图5和图6的方法，通过感测所有像素的特性而对本发明OLED面板的色差(mura，亮度的非均匀性)进行补偿。
[0056]更特别的，图5和图6图示出驱动本发明实施例的有机发光显示装置的方法，其分别示出时间步长(time step)补偿方法和反馈补偿方法。在这些方法中，通过改变驱动TFT的漏极电压Vdd，驱动TFT的漏极-源极电压Vds保持在恒定或基本恒定水平，其使得流经驱动TFT的电流的测量更为准确。在一实施例中，为了产生要施加给驱动TFT的漏极的改变的漏极电压，可以以预定时间期限测量驱动TFT的源极电压变化，并且随后按照所感测的驱动TFT的源极电压变化来改变漏极电压。
[0057]在外部补偿的情况下，可以单独地测量像素特性以补偿所有像素。在这方面，实现正确的电流测量值是重要的。如果获得了不正确的电流测量值，那么像素补偿将变得不准确，这可能会导致图像质量的劣化并且可能导致有缺陷的OLED面板。
[0058]按照本发明的实施例，可以通过向有机发光显示装置的像素施加电压并测量像素电压，而感测像素中驱动TFT的特性。
[0059]按照本发明的实施例，在感测多个