一种液晶模块的测试方法及测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶模块的测试方法及测试装置。
【背景技术】
[0002]在液晶显示屏生产中，通常需要对液晶模块进行各种测试，例如最为常见的老化测试(英文=Stress Test)等。在测试中通过测试信号模拟液晶模块在正常显示时的各种工作状态，并进一步得到液晶模块内部结构单元的各种特性参数，从而对液晶模块的可靠性、有效工作寿命等进彳T评估。
[0003]为了进行测试，液晶模块上通常设有测试电路单元。现有技术中通常采用信号发生器提供测试信号，以完成测试。
[0004]当被测液晶模块未与外部的信号发生器连接时，测试电路单元的驱动信号端悬空。在通过信号发生器加载测试信号时，测试结果往往因为实际加载的测试信号不同而不同。为得到可靠的测试结果，需要测试信号尽可能地模拟液晶模块在实际工作状态下各种结构单元所接收到的信号。然而，信号发生器可能并不能很好地模拟实际工作状态下的各种信号，尤其对于高频信号，信号发生器可能并不能够输出满足测试要求的信号，再者，信号发生器输出的测试信号容易受实际测试环境中各种干扰的影响，使得测试结果缺乏准确性，进而影响对产品可靠性的评估。
【发明内容】
[0005]本发明的实施例提供一种液晶模块的测试方法及测试装置，能够提高对液晶模块测试的准确性。
[0006]为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案:
[0007]一方面，一种液晶模块的测试方法，包括:
[0008]加载待测的液晶模块，所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；
[0009]驱动所述液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；
[0010]向所述液晶模块输入激励信号，所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数；
[0011]从所述液晶模块接收反馈信号，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号。
[0012]可选的，所述切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接，包括:
[0013]通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。
[0014]可选的，所述测试电路单元包括GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的至少一种。
[0015]可选的，所述驱动信号线包括时钟CLK信号线、高电平VGH信号线、低电平VGL信号线、多路复用MUX信号线、栅极Gate信号线或者源极Source信号线中的至少一种。
[0016]可选的，所述方法还包括:
[0017]根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。
[0018]一方面，一种液晶模块的测试装置，包括:
[0019]加载模块，用于加载待测的液晶模块，所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；
[0020]所述加载模块，还用于驱动所述液晶模块工作；
[0021]分割模块，用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；
[0022]特性参数测试模块，用于向所述液晶模块输入激励信号，并从所述液晶模块接收反馈信号；所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号。
[0023]可选的，所述分割模块，具体用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。
[0024]可选的，所述特性参数测试模块，具体用于向GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的任一种测试电路单元，输入所述激励信号，并接收所述反馈信号。
[0025]可选的，所述测试装置还包括输出模块，用于根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。
[0026]本发明的实施例提供的液晶模块的测试方法，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。
【附图说明】
[0027]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为本发明的实施例一所提供的液晶模块的测试方法流程示意图；
[0029]图2为本发明的实施例二所提供的液晶模块的测试方法流程示意图；
[0030]图3为本发明的实施例二中测试电路单元为GOA电路中MOS晶体管的说明示意图；
[0031]图4为本发明的实施例二中测试电路单元为MUX单元的说明示意图；
[0032]图5为本发明的实施例二中测试电路单元为像素单元的说明示意图；
[0033]图6为本发明的实施例二中测试电路单元为ESD单元的说明示意图；
[0034]图7为本发明的实施例二中测试电路单元为GOA电路中反相器单元的说明示意图；
[0035]图8为本发明的实施例三所提供的一种液晶模块的测试装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0036]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0037]本发明的实施例提供一种液晶模块的测试方法及测试装置，用于对液晶模块进行测试。在液晶显示器的制造中，通常需要对液晶模块进行各种测试。以最为常见的老化测试(英文=Stress Test)为例，在老化测试中，液晶模块在测试信号下工作一段时间后，再对液晶模块内部结构单元的各种特性参数进行测试，通过比较老化测试前后各种特性参数的变化，对液晶模块的可靠性、有效工作寿命等进行评估。
[0038]本发明的实施例以老化测试的应用场景为例进行说明，当然，本发明的实施例所提供的对液晶模块的测试方法，可以用于对液晶模块进行多种具体的测试，本发明对于具体的测试场景不做限定。
[0039]实施例一
[0040]本发明的实施例一提供一种液晶模块的测试方法，参照图1所示，具体包括以下步骤:
[0041]101、测试装置加载待测的液晶模块，液晶模块包括测试电路单元，测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接。
[0042]在液晶显示器制造中，在经过切割(英文:Cutting)工艺后形成一个个独立的液晶盒(英文:Cell)，液晶盒在经过与驱动集成电路(英文全称integrated circuit，英文简称:IC)邦定(英文:Bonding)，印制电路板(英文全称:Printed Circuit Board，英文简称:PCB)连接等处理后，形成液晶模块(英文=Module)。测试装置加载待测的液晶模块，指通过待测的液晶模块的接口与待测模块连接，并驱动液晶模块正常显示。
[0043]液晶模块包括测试