液晶显示模组老化测试系统的制作方法

文档序号:9548370阅读:716来源:国知局
液晶显示模组老化测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示技术领域,特别涉及一种液晶显示模组老化测试系统。
【背景技术】
[0002]液晶显示装置(Liquid Crystal Display,LCD)具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点,目前在平板显示领域占主导地位,液晶显示装置非常适合应用在台式计算机、掌上型计算机、个人数字助理(Personal DigitalAssignment,PDA)、便携式电话、电视和多种办公自动化和视听设备中。
[0003]液晶显示模组是液晶显示装置的关键零部件之一,液晶显示器在出厂前,通常需要采用老化测试装置对液晶显示模组进行老化测试,老化测试是在高温下长时间(例如100小时)对液晶显示模组进行接通电源以显示图像后从而对液晶显示模组进行内建式自测试,以便于早期发现液晶显示模组的不良点,从而提升出货品质。目前液晶显示模组在老化测试过程中,首先需要老化测试装置给液晶显示模组提供初始化信息以对液晶显示模组进行初始化,再根据时序信息提供测试图像给液晶显示模组进行显示,以此来点亮液晶显示模组(即保证显示模组显示图像并正常工作),再在测试过程中,判断所显示的图像是否正常,从而实现对液晶显示模组的老化测试。目前,与每一机种液晶显示模组相适配的初始化信息不相同,因此,无法共用一个老化测试装置点亮不同机种的液晶显示模组,即当液晶显示模组的机种变更后,需要重新烧录老化测试装置的初始化信息并进行上述点亮液晶显示模组的过程。现有的一种用于点亮MIPI (Mobile Industry Processor Interface,移动产业处理器)接口的液晶显示模组的老化测试装置如图1所示,图1所示的老化测试装置为设置于老化测试箱中的多个MIPI信号板10,每一 MIPI信号板10上设置MCU12和接口13。并且每一液晶显不模组11的机种均不相同,每一 MIPI信号板10均电性相连一种机种的液晶显示模组11。每个MIPI信号板10均是独立进行操作的,当需要点亮某一个机种的液晶显示模组11时,通过接口 13将相应液晶显示模组11的初始化信息和时序信息传送给MIPI信号板10的MCU12,然后由MCU12将初始化信息和时序信息转化为MIPI信号后传送至相应的液晶显示模组11,以点亮相应的液晶显示模组11,再判断所显示的图像是否正常。上述老化测试装置存在以下问题:因不同机种液晶显示模组无法共用同一个老化测试装置,因此,液晶显示模组机种变更时,上述测试装置需要通过烧录等方式对相应MIPI信号板10烧录初始化信息和时序信息,当液晶显示模组数量较多时,需要烧录的工作量大,另外,当有某一个液晶显示模组11未点亮时,则需要重新操作MIPI信号板对此液晶显示模组11进行上述点亮操作过程,这样不仅导致大量的时间与人力、物力的耗费,而且效率很低,成本较高。

【发明内容】

[0004]本发明提供一种液晶显示模组老化测试系统,适用于不同机种的液晶显示模组,且效率较高。
[0005]所述技术方案如下:
[0006]本发明实施例提供了一种液晶显示模组老化测试系统,适于测试不同机种的液晶显示模组,其包括:测试信息提供装置、与所述测试信息提供装置相连的主控制板、与所述主控制板相连的多个子控制板,其中,所述测试信息提供装置,用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述主控制板;所述主控制板,与所述测试信息提供装置及每个子控制板相连,用于接收所述测试信息提供装置提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息,并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板;每一子控制板,与所述主控制板及多个液晶显示模组相连,用于接收到所述主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时,生成测试图像信号,并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组,以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像,以点亮相应的液晶显示模组,从而实现对液晶显示模组的老化测试。
[0007]在本发明的一个实施例中,经第一信号转换后的信号为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号中的一个。
[0008]在本发明的一个实施例中,所述测试信息包括控制命令、初始化信号和时序信息,所述控制命令包括将每个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的液晶显示模组的命令、控制液晶显示模组根据初始化信息进行初始化的命令,所述初始化信息包括伽马电压、公共电压,所述时序信息包括水平同步信号、垂直同步信号、时钟信号和使能信号。
[0009]在本发明的一个实施例中,所述测试信息提供装置为上位机,所述主控制板包括控制器、输入接口、分配器、输出接口 ;其中,所述控制器,与所述输入接口及所述分配器相连,所述控制器用于通过所述输入接口接收所述上位机提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息,并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器;所述分配器,与所述控制器和所述输出接口相连,其包括多个输出通道,所述每个输出通道与一个输出接口相连,所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息,根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道,并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。
[0010]在本发明的一个实施例中,所述输入接口为USB,COM,RS232接口的其中之一。
[0011]在本发明的一个实施例中,所述测试信息提供装置为闪存卡,所述主控制板包括控制器、分配器、输出接口 ;其中,所述控制器,与所述闪存卡及所述分配器相连,所述控制器用于接收所述闪存卡提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息,并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器;所述分配器,与所述控制器和所述输出接口相连,其包括多个输出通道,所述每个输出通道与一个输出接口相连,所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息,根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道,并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。
[0012]在本发明的一个实施例中,所述控制器为MCU,所述分配器为FPGA。
[0013]在本发明的一个实施例中,所述主控制板还包括键盘,所述键盘与所述控制器相连,所述键盘用于向所述控制器发送所述控制命令。
[0014]在本发明的一个实施例中,所述输出接口为串口,所述控制器还用于将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息编码为串行格式后提供给所述分配控制器。
[0015]在本发明的一个实施例中,所述闪存卡以插拔方式设置在所述主控制板上。
[0016]本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
[0017]通过主控制板将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板。每一子控制板接收到主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时,生成测试图像信号,并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)提供给相应的液晶显示模组,以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像,以点亮相应的液晶显示模组,从而实现对液晶显示模组的老化测试。本发明实施例对不同机种的液晶显示模组进行老化测试时,仅需要给主控制板提供不同机种的测试信息,则主控制板就会将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板,从而实现对液晶显示模组的老化测试,操作方便,流程简单,并且不同机种液晶显示模组可以共用同一个测试系统,避免现有技术中切换机种时每个测试装置均进行烧录程序的麻烦,节省切换机种时间,从而节省了成本,提高了测试效率。
[0018]上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
【附图说明】
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