一种LTPS显示面板及外围电路和测试方法与流程

本发明属于液晶显示控制技术领域，具体地说，尤其涉及一种LTPS显示面板及外围电路和测试方法。

背景技术：

为了防止面板内部积累过多的静电导致线路损坏，传统的LTPS(Low temperature poly-silicon，低温多晶硅)显示面板往往都设置有静电ESD防护结构。

LTPS显示面板产生静电的过程主要集中在阵列基板干刻蚀制程上。因此，在面板设计时，都会在每一根数据线尾端设计有ESD结构，以防护阵列基板制程中产生的静电。阵列基板制程完成后，外围ESD结构依然存于面板的尾端，会占据边框内部空间，不利于显示面板窄边框设计。

技术实现要素：

为解决以上问题，本发明提供了一种LTPS显示面板及外围电路和测试方法，用于节省面板外围空间，实现产品窄边框设计。

根据本发明的一个方面，提供了一种LTPS显示面板外围电路，包括：

在每条数据线的尾端设置一N型晶体管和一P型晶体管，所述N型晶体管和所述P型晶体管的源漏极对应连接，

其中，所述N型晶体管和所述P型晶体管的源漏极对应连接的一端连接数据线，另一端连接信号传输线，所述N型晶体管的栅极和所述P型晶体管的栅极分别连接对应的控制信号线，所述信号传输线和所述控制信号线短接地线。

根据本发明的一个实施例，在所述信号传输线和所述控制信号线与地线之间设置有切割线，用以按照所述切割线切断所述信号传输线和所述控制信号线与地线之间的连接。

根据本发明的一个实施例，

所述信号传输线包括三条，其中，第一条与驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第二条与驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第三条与驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。

根据本发明的一个实施例，

所述控制信号线包括两条，其中，第一条与所述电路中所有的P型晶体管的栅极连接，第二条与所述电路中所有的N型晶体管的栅极连接。

根据本发明的一个实施例，

所述信号传输线包括两条，其中，第一条分别与一个像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第二条分别与相邻一个像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。

根据本发明的一个实施例，

所述控制信号线包括六条，其中，第一条与所有像素单元内用于驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第二条与所有像素单元内用于驱动红像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第三条与所有像素单元内用于驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第四条与所有像素单元内用于驱动绿像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第五条与所有像素单元内用于驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第六条与所有像素单元内用于驱动蓝像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接。

根据本发明的一个实施例，所述N型晶体管和所述P型晶体管为薄膜晶体管。

根据本发明的另一方面，还提供了一种采用以上所述电路的LTPS显示面板，其特征在于，所述面板中相同颜色像素纵向同列排布，横向间隔两列其他颜色像素排布。

根据本发明的再一个方面，还提供了一种用于以上所述显示面板的测试方法，包括：

切断信号传输线和控制信号线与地线之间的连接；

通过控制信号线输出控制信号，以控制所有的P型晶体管和所有的N型晶体管开启；

通过信号传输线输出测试信号来对面板进行测试。

根据本发明的又一个方面，还提供了一种用于以上所述显示面板的测试方法，包括：

切断信号传输线和控制信号线与地线之间的连接；

通过控制信号线输出控制信号，以控制所有的P型晶体管和所有的N型晶体管关闭；

通过数据线输出测试信号来对面板进行测试。

本发明的有益效果：

本发明将Cell测试结构与ESD结构合并在一起，在阵列基板制程阶段，该合并的结构作为ESD静电防护装置，起到保护线路的作用；在面板Cell点灯阶段，该合并的结构又能起到正常的测试功能，并且不影响面板后期模组正常显示。这样合并的结构能有效节省面板外围空间，实现窄边框设计。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要的附图做简单的介绍：

图1是现有技术中一种LTPS面板电路结构示意图；

图2是图1在Cell点灯阶段的DE-Mux时序示意图；

图3是根据本发明的一个实施例的LTPS面板电路设计电路图；

图4是根据本发明的另一个实施例的LTPS面板电路设计电路图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

如图1所示为现有技术中一种传统LTPS面板电路结构示意图，其外围电路包括ESD结构及测试电路。如图1所示，ESD结构通常设计在数据线驱动多路复用电路DE-mux的对侧。在阵列基板制程阶段，当数据线上电位过高时，ESD结构中上部分的P型晶体管P-TFT开启，将积累的正电荷导出；如果数据线上电位过低时，ESD结构中下部分的N型晶体管N-TFT开启，将积累的负电荷导出。

在Cell点灯阶段，不再有静电积累，ESD结构不再发挥作用，而DE-Mux开始正常工作。DE-Mux通过奇数列数据线ODD、偶数列数据线EVEN输出信号，来实现面板的正常显示。如图2所示为传统设计中Cell点灯阶段DE-Mux的驱动时序图。在面板正常显示时，CK01处于高电平期间，ckx01，ckx02，ckx03依次开启，控制RGB数据线输出信号。在整个面板的外围电路结构中，用于Cell点灯测试的测试线路占据面板大部分空间，不利于面板的窄边框设计。

为解决以上问题，本发明提供了一种新型的LTPS显示面板外围电路，将Cell测试结构与ESD结构合并在一起。在阵列基板制程阶段，该合并的结构作为ESD静电防护装置，起到保护线路的作用；在面板Cell点灯阶段，该合并的结构又能起到正常的测试功能，并且不影响面板后期模组正常显示。这样合并的结构能有效节省面板外围空间，实现窄边框设计。

该LTPS显示面板外围电路包括在每条数据线的尾端设置一N型晶体管和一P型晶体管，N型晶体管和P型晶体管的源漏极对应连接，如图3和图4所示的N型晶体管和P型晶体管连接结构。其中，N型晶体管和P型晶体管的源漏极对应连接的一端连接数据线，另一端连接信号传输线，N型晶体管的栅极和P型晶体管的栅极分别连接对应的控制信号线，信号传输线和控制信号线短接地线。

在阵列基板制程阶段，当数据线上的电位过高时，P型晶体管打开，将数据线上积累的正电荷导入地线；当数据线上的电位过低时，N型晶体管打开，将数据线上积累的负电荷导入地线。在Cell点灯阶段，断开信号传输线和控制信号线与地线之间的连接，通过控制信号线控制N型晶体管和P型晶体管的开启和关闭，通过信号传输线或DE-Mux输出驱动信号，来对面板进行测试。这样，将Cell测试结构与ESD结构合并在一起，有效地节省了面板外围空间，能够实现产品的窄边框设计。

在本发明的一个实施例中，在信号传输线和控制信号线与地线之间设置有切割线，用以按照该切割线切断信号传输线和控制信号线与地线之间的连接。具体的，如图3和图4中的虚线Cut line。在Cell制程阶段，通过切割或者磨边制程，沿着切割线将信号传输线和控制信号线短接于地线之间的连接线去掉，从而断开各信号传输线和各控制信号线之间的连接。

在本发明的一个实施例中，该信号传输线包括三条，其中，第一条与驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第二条与驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第三条与驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。具体的，如图3所示，信号传输线CT-R与驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，信号传输线CT-G与驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，信号传输线CT-B与驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。并且，通过设置3条信号传输线来分别向不同颜色的像素传输信号，可以对不同颜色的像素对应线路连接分别进行测试。

在本发明的一个实施例中，控制信号线包括两条，其中，第一条与电路中所有的P型晶体管的栅极连接，第二条与电路中所有的N型晶体管的栅极连接。具体的，如图3所示，控制信号线xck-1与电路中所有的N型晶体管的栅极连接，用于控制所有N型晶体管的开启和关闭，控制信号线xck-2与电路中所有的P型晶体管的栅极连接，用于控制所有P型晶体管的开启和关闭。

在阵列基板制程中，如采用如图3所示的外围电路结构，如果数据线电位过高时，右部分的P型晶体管开启，将正电荷导出。如果数据线电位过低时，左部分的N型晶体管开启，将负电荷导出。这样就能起到ESD防护的效果。

在Cell制程阶段，如采用如图3所示的外围电路结构，通过切割或者磨边制程，沿Cut line将短接用的线直接去掉，使得信号传输线CT-R、CT-G、CT-B，和控制信号线xck-1、xck-2相互之间以及地线之间断开连接。在Cell点灯时，控制信号线xck-1、xck-2控制晶体管开启，通过CT-R、CT-G、CT-B向面板传输信号。在模组Module点灯时，控制信号线xck-1、xck-2控制晶体管关闭，通过Fanout线路与DE-Mux线路驱动面板正常显示。这样，无需在面板外围额外设计Cell测试结构，将Cell测试结构与尾端的ESD结构结合，大大节省了面板的设计空间，有利于窄边框设计。

在本发明的一个实施例中，信号传输线包括两条，其中，第一条分别与一个像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第二条分别与相邻一个像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。具体的，如图4所示，第一条信号传输线CT-DO分别与左侧像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接，第二条信号传输线CT-DE分别与右侧像素单元内用于驱动红绿蓝三色像素的三条数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管连接。

在本发明的一个实施例中，控制信号线包括六条，其中，第一条与所有像素单元内驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第二条与所有像素单元内驱动红像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第三条与所有像素单元内驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第四条与所有像素单元内驱动绿像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第五条与所有像素单元内驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第六条与所有像素单元内驱动蓝像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接。

具体的，如图4所示，第一条控制信号线xck-1与所有像素单元内用于驱动红像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第二条控制信号线xck-2与所有像素单元内用于驱动红像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第三条控制信号线xck-3与所有像素单元内用于驱动绿像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第四条控制信号线xck-4与所有像素单元内用于驱动绿像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接，第五条控制信号线xck-5与所有像素单元内用于驱动蓝像素的数据线尾端的N型晶体管的栅极连接，第六条控制信号线xck-6与所有像素单元内用于驱动蓝像素的数据线尾端的P型晶体管的栅极连接。这样，通过设置六条信号控制线，并两两分为一组，共形成3组控制信号线。这3组控制信号线分别控制用于驱动不同颜色像素的数据线尾端的N型晶体管和P型晶体管，可以控制实现不同颜色像素对应线路的连接情况测试。

在阵列基板制程中，如采用如图4所示的外围电路结构，如果数据线电位过高时，右部分的P型晶体管开启，将正电荷导出。如果数据线电位过低时，左部分的N型晶体管开启，将负电荷导出。这样就能起到ESD防护的效果。

在Cell制程阶段，如采用如图4所示的外围电路结构，通过切割或者磨边制程，沿Cut line将短接用的线直接去掉，使得信号传输线CT-DO、CT-DE，和控制信号线xck-1、xck-2、xck-3，xck-4，xck-5，xck-6信号线相互之间以及地线之间断开连接。在Cell点灯时，控制信号线xck-1、xck-2、xck-3，xck-4，xck-5，xck-6控制晶体管开启，通过信号传输线CT-DO、CT-DE向面板传输信号。在Module点灯时，控制信号线xck-1、xck-2、xck-3，xck-4，xck-5，xck-6控制晶体管关闭，通过Fanout线路与DE-Mux线路驱动面板正常显示。这样，无需在面板外围额外设计Cell测试结构，将Cell测试结构与尾端的ESD结构结合，大大节省了面板的设计空间，有利于窄边框设计。

在本发明的一个实施例中，N型晶体管和P型晶体管为薄膜晶体管TFT。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种采用以上LTPS显示面板外围电路的LTPS显示面板，该面板中相同颜色像素纵向同列排布，横向间隔两列其他颜色像素排布。像素排布如图3和图4所示。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种用于以上LTPS显示面板的测试方法，包括：切断信号传输线和控制信号线与地线之间的连接；通过控制信号线输出控制信号，以控制所有的P型晶体管和所有的N型晶体管开启；通过信号传输线输出测试信号来对面板进行测试。

根据本发明的再一个方面，还提供了另一种用于以上LTPS显示面板的测试方法，包括：切断信号传输线和控制信号线与地线之间的连接；通过控制信号线输出控制信号，以控制所有的P型晶体管和所有的N型晶体管关闭；通过数据线输出测试信号来对面板进行测试。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。