一种用于测试LCD的链接工装底座的制作方法

本实用新型属于LCD测试链接工装领域，尤其是涉及一种用于测试LCD的链接工装底座。

背景技术：

LCD即LCD液晶显示器，LCD的构造是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶盒，下基板玻璃上设置薄膜晶体管，上基板玻璃上设置彩色滤光片，通过薄膜晶体管上的信号与电压改变来控制液晶分子的转动方向，从而达到控制每个像素点偏振光出射与否而达到显示目的。

LCD在封装之前进行点亮测试，需要将LCD与测试电路信号对接，现在，主要是通过频针插头插入LCD的频针插孔内实现，但是存在插接稳固问题，由于人手插接频针插头的操作存在不确定性，常常造成良品由于插接不当，被划分成残品，造成资源浪费，现在缺乏一次性插接稳固的辅助工装。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型旨在提出一种用于测试LCD的链接工装底座，能够通过LCD连接槽上侧突出的频针稳固插接LCD，通过链接底板下侧突出的频针稳固插接测试电路，实现LCD与测试电路的稳固信号连接，提升检测准确性，减少误判，节约资源。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种用于测试LCD的链接工装底座，包括链接底板以及设置在所述链接底板上的支承座，所述支承座上表面设置有对应LCD的内凹式LCD连接槽，所述LCD连接槽内设置有对应LCD连接孔位置的频针孔，所述频针孔纵向贯穿所述LCD连接槽和所述链接底板，所述频针孔内设置有频针，所述频针的两端突出所述频针孔。

进一步的，所述支承座的四角处开有固定孔，所述固定孔纵向贯穿所述支承座和所述链接底板。

进一步的，所述支承座上还开有定位孔，所述定位孔纵向贯穿所述支承座和所述链接底板，且所述定位孔内插接有定位柱。

进一步的，所述频针的半径为0.10毫米。

相对于现有技术，本实用新型所述的用于测试LCD的链接工装底座具有以下优势：

频针能够固设在频针孔内，LCD连接槽上侧突出的频针能够对应插接进LCD连接孔内，实现与LCD的稳固对接，链接底板下侧突出的频针，能够对应插接进测试电路中，本实用新型能够作为LCD和测试电路的连接桥梁，而且，本实用新型在分别与LCD和测试电路连接时，相较于传统的插头式插接，能够更加稳固，提升检测效率，有效降低误判率，节约资源。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例的结构示意图；

图2为链接底板的底面结构示意图；

图3为本实用新型侧面透视结构示意图。

附图标记说明：

1-链接底板；2-支承座；21-固定孔；22-定位孔；23-定位柱；3-LCD连接槽；4-频针孔；5-频针。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

如图1、2、3所示，本实用新型提供一种用于测试LCD的链接工装底座，包括链接底板1以及设置在所述链接底板1上的支承座2，所述支承座2上表面设置有对应LCD的内凹式LCD连接槽3，所述LCD连接槽3内设置有对应LCD连接孔位置的频针孔4，所述频针孔4纵向贯穿所述LCD连接槽3和所述链接底板1，所述频针孔4内设置有频针5，所述频针5的两端突出所述频针孔4。

所述支承座2的四角处开有固定孔21，所述固定孔21纵向贯穿所述支承座2和所述链接底板1。

所述支承座2上还开有定位孔22，所述定位孔22纵向贯穿所述支承座2和所述链接底板1，且所述定位孔22内插接有定位柱23。

所述频针5的半径为0.10毫米。

本实例的工作过程：将链接底板1的底面对应测试电路，链接底板1下侧突出的频针5插接进测试电路上，定位孔22内的定位柱23与测试电路定位，再通过将螺钉拧入固定孔21内，实现链接底板1和支承座2的定位固定，最后将LCD连接孔对应插接在LCD连接槽3上侧突出的频针5上，即实现了LCD与测试电路的信号连接。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。