本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种显示面板及封框胶测量方法。
背景技术:
液晶显示面板是由阵列基板和彩膜基板对盒,并在两个基板之间注入液晶形成的。为了使阵列基板和彩膜基板密封以切断液晶分子与外界的接触、维持阵列基板和彩膜基板之间的盒厚、以及确保液晶显示面板的显示效果,需要使用封框胶,封框胶位于液晶显示面板的四周。
在涂布一张玻璃基板时,会使用封框胶涂布装置在玻璃基板表面的四周涂布一圈封闭的封框胶,然而,由于各种外界因素和技术因素,在涂布过程当中往往会有多次停顿,并且由于液态封框胶的涂布线路会受到液体回吸压力的影响,每次停顿之后,涂布装置的涂布头处的残留封框胶的头部会较大,难免会出现封框胶涂布不均匀、截面积不一致的现象,在对盒之后容易引起漏胶、盒厚不均匀等不良效果,影响显示品质,而且当需要测量封框胶线路上两点之间的截面积时,液体回吸压力引起的局部封框胶的截面积不一致也严重影响测量精度,无法精确改善涂布均匀性。
技术实现要素:
鉴于现有技术存在的不足,本发明提供了一种显示面板及封框胶测量方法,其有助于提高封框胶的涂布均匀性和测量均匀性。
为了实现上述的目的,本发明采用了如下的技术方案:
一种显示面板,包括上基板、下基板、填充于所述上基板和所述下基板之间的液晶以及一圈矩形的主封框胶,所述主封框胶形成于所述上基板和所述下基板之间并将所述液晶包围于其中;所述主封框胶包括测量部,所述测量部包括一段测量段和分别连接所述测量段两端的两段折弯段,两段所述折弯段分别相对于所述测量段弯折,并同时连接在所述主封框胶的同一条边上。
作为其中一种实施方式,所述测量部的两段所述折弯段相对于所述测量段朝同一侧弯折。
作为其中一种实施方式,所述测量部的两段所述折弯段相对于所述测量段朝同相反的两侧弯折。
作为其中一种实施方式,所述测量部为多个,且间隔设置。
作为其中一种实施方式,所述测量部与两端的所述折弯段相互垂直。
作为其中一种实施方式,所述的显示面板还包括辅助封框胶,所述辅助封框胶与所述主封框胶间隔地设于所述主封框胶内侧,且形成于所述上基板和所述下基板之间并将所述液晶包围于其中。
作为其中一种实施方式,所述辅助封框胶与所述主封框胶之间连接有复数条封框胶形成的衔接段,相邻两条所述衔接段与其之间的部分所述辅助封框胶构成所述主封框胶的所述测量部。
或者,所述的显示面板还包括辅助封框胶,所述辅助封框胶与所述主封框胶间隔地设于所述主封框胶外侧,且形成于所述上基板和所述下基板之间并将所述液晶包围于其中。
作为其中一种实施方式,所述辅助封框胶与所述主封框胶之间连接有复数条封框胶形成的衔接段,相邻两条所述衔接段与其之间的部分所述辅助封框胶构成所述主封框胶的所述测量部。
本发明的另一目的在于提供一种所述的显示面板的封框胶测量方法,包括:选取所述测量部的所述测量段上的两点作为测量点,并计算两个所述测量点的封框胶的截面积。
本发明通过将显示面板的封框胶设计成具有折弯段和测量段的测量部,测量部位于封框胶的同一条边上,由于测量段与封框胶的主体部分具有折弯段,可以使得测量点位避开起始涂布点,测量部的存在可以防止封框胶在涂布过程中由于主体部分产生回吸压力造成的封框胶截面不均匀,并能防止测量部的测量段的封框胶的截面值受影响而导致的测量不准。
附图说明
图1为本发明实施例1的显示面板的结构示意图;
图2为本发明实施例1的封框胶的涂布位置示意图;
图3为本发明实施例1的封框胶的一种测量部的结构示意图;
图4为本发明实施例1的封框胶的另一种测量部的结构示意图;
图5为本发明实施例1的封框胶的封框胶测量方法流程图;
图6为本发明实施例2的显示面板的结构示意图;
图7为本发明实施例2的封框胶的涂布位置示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明的显示面板包括上基板、下基板、填充于上基板和下基板之间的液晶以及一圈矩形的主封框胶,主封框胶形成于上基板和下基板之间,并将液晶包围于其中,可以防止外界的灰尘、水汽进入而影响显示质量,也能防止内部的液晶漏出而导致显示恶化。其中,主封框胶还具有至少一个测量部,该测量部主要包括一段测量段和分别连接测量段两端的两段折弯段,这两段折弯段分别相对于测量段弯折,并且同时连接在主封框胶的同一条边上。具有测量部的主封框胶的边则可以通过测量测量段上两个间隔的点的截面积来完成测量,测量段的封框胶的涂布均匀性不受其他部位的回吸压力的影响,可以很好地保证测量精度,并且,设置有测量部的封框胶所在的边也因此可以更好地保证封框胶的涂布均匀性。下面结合具体的实施例和附图对本发明进一步说明。
实施例1
参阅图1所示,本实施例的显示面板具有上基板10、下基板20、填充于上基板10和下基板20之间的液晶30以及一圈矩形的主封框胶40,主封框胶40形成于上基板10和下基板20之间的外围区域,并将液晶30包围于其中。其中,上基板10、下基板20可以分别选自彩膜基板和阵列基板,通过电压来改变液晶材料内部分子的排列状况,可以实现遮光和透光的目的来显示不同的画面。
如图2和图3所示,主封框胶40具有测量部41,测量部41包括一段测量段411和分别连接测量段411两端的两段折弯段412,两段折弯段412分别相对于测量段411弯折,并同时连接在主封框胶40的同一条边上。这里,每个折弯段412的自由端连接至主封框胶40的主体部分,即使在封框胶在基板上涂布的过程中主体部分出现停顿也不会影响测量段411的宽度和厚度。
图3所示的测量部41中,两段折弯段412相对于测量段411朝同一侧弯折,图4所示的测量部41中,测量部41的两段折弯段412相对于测量段411朝同相反的两侧弯折。优选测量部41与两端的折弯段412相互垂直,图3所示的测量部41呈u型,图3所示的测量部41呈z型,矩形的主封框胶40的每条边可以设置有多个测量部41为多个,这些测量部41间隔设置。
在制作显示面板盒时,液晶位于上基板10或下基板20的中间区域,主封框胶40涂布时,在涂布大致为矩形主体部分时,还间歇性地涂布出测量部41,测量部41的折弯段412的存在可以避免主封框胶40的矩形主体部分在涂抹停顿的部位产生回吸压力影响测量部41或主体部分的涂布厚度和宽度,保证了封框胶整体的涂布均匀性,并保证了封框胶的截面积的测量精度。
结合图3~图5,在进行封框胶的测量时,首先选取测量部41的测量段411上的两点a、b作为测量点(如图5中的步骤s01),然后再计算两个测量点的封框胶的截面积(如图5中的步骤s02),通过对比两个测量点的截面积差异从而得出涂布均匀性。
实施例2
如图6和图7所示,与实施例不同的是,本实施例的显示面板还具有一圈辅助封框胶50,该辅助封框胶50与主封框胶40间隔,且位于主封框胶40的外侧,辅助封框胶50也形成于上基板10和下基板20之间并将液晶30包围于其中。
另外,辅助封框胶50与主封框胶40之间还涂布形成有复数条封框胶形成的衔接段t,相邻两条衔接段t与其之间的部分辅助封框胶50构成主封框胶40的测量部41,衔接段t相当于测量部41的折弯段412,相邻两条衔接段t之间的部分辅助封框胶50相当于测量部41的测量段411。
或者,辅助封框胶50与主封框胶40间隔且位于主封框胶40的内侧,也形成于上基板10和下基板20之间并将液晶30包围于其中。也在辅助封框胶50与主封框胶40之间连接有复数条封框胶形成衔接段t,相邻两条衔接段t与其之间的部分辅助封框胶50构成主封框胶40的测量部41。
辅助封框胶50一方面可以与主封框胶40配合形成双重密封保障,另一方面,也可以作为测量部41的测量段411,供封框胶测量,由于二者之间具有衔接段t,可以很好地改善辅助封框胶50、主封框胶40的矩形主体部分的涂布均匀性,并兼顾测量精度。
综上所述,本发明通过将显示面板的封框胶设计成具有折弯段和测量段的测量部,测量部位于封框胶的同一条边上,由于测量段与封框胶的主体部分具有折弯段,可以使得测量点位避开起始涂布点,测量部的存在可以防止封框胶在涂布过程中由于主体部分产生回吸压力造成的封框胶截面不均匀,并能防止测量部的测量段的封框胶的截面值受影响而导致的测量不准。
以上所述仅是本申请的具体实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。