一种显示基板及显示装置、检测方法与流程

本公开实施例涉及但不限于显示技术，尤指一种显示基板及显示装置、检测方法。

背景技术：

液晶显示面板主要由薄膜晶体管(thinfilmtransistor，tft)和彩膜(colorfilter，cf)基板组成，成盒后就会进行点灯检测，确认液晶盒是否存在不良，把良品进行偏光片(polarizer，pol)贴附，绑定集成电路(bondingic)&柔性电路板(flexibleprintedcircuit，fpc)等模组工艺组装成模组再进行点灯确认是否存在不良。液晶盒点灯与模组点灯存在差异，液晶盒点灯时由点灯治具探针(pin)直接压到液晶盒从盒测试(celltest，ct)单元输入电压实现显示；模组点灯的时候电压信号会经过fpc过集成电路(integratedcircuit，ic)经扇形区(fanout)进入显示区域实现显示。

技术实现要素：

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开实施例提供了一种显示基板及显示装置，检测方法。

一方面，本公开实施例提供了一种显示基板，所述显示基板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述周边区包括设置在所述显示区第一侧的点灯测试单元，设置在所述显示区第二侧的多路选择单元，设置在所述多路选择单元远离所述显示区一侧的扇形区，所述扇形区包括多条扇出引线，所述第一侧和第二侧为相对的两侧，所述显示区包括多个子像素列和与所述子像素列一一对应的多条数据线；

所述点灯测试单元电连接多个测试控制端、点灯测试信号端和所述数据线，被配置为在所述测试控制端的控制下，将所述点灯测试信号端的点灯测试信号提供给所述数据线；

所述多路选择单元电连接多个数据控制端、扇出引线和所述数据线，被配置为在所述数据控制端的控制下，将所述扇出引线的信号提供给所述数据线，且一条扇出引线的信号提供给至少两个子像素列对应的数据线。

在一示例性实施例中，一条扇出引线的信号提供给不相邻的多个子像素列对应的数据线。

在一示例性实施例中，所述点灯测试信号端包括第一点灯测试信号端和第二点灯测试信号端，所述点灯测试单元包括电连接所述第一点灯测试信号端的第一点灯测试信号线、电连接所述第二点灯测试信号端的第二点灯测试信号线、与所述子像素列一一对应的第一开关单元、与所述多个测试控制端分别电连接的多个第一控制信号线，所述第一开关单元电连接所述第一点灯测试信号线或第二点灯测试信号线，以及一条第一控制信号线，其中，

所述第一开关单元被配置为，在所述第一控制信号线的控制下，将所述第一点灯测试信号线或第二点灯测试信号线的信号提供给数据线，且所述第一点灯测试信号线的信号提供给偶数列子像素列对应的数据线，所述第二点灯测试信号线的信号提供给奇数列子像素列对应的数据线。

在一示例性实施例中，同一扇出引线所电连接的数据线，电连接到同一点灯测试信号线，相邻的扇出引线所电连接的数据线，电连接到不同的点灯测试信号线。

在一示例性实施例中，所述子像素列包括第一颜色子像素列、第二颜色子像素列和第三颜色子像素列，所述多个第一控制信号线包括第一子控制信号线、第二子控制信号线和第三子控制信号线，所述第一子控制信号线控制与第一颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元，所述第二控子制信号线控制与第二颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元，所述第三子控制信号线控制与第三颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元。

在一示例性实施例中，所述点灯测试单元还包括与所述第一开关单元一一对应的第二开关单元，总控制信号线，所述第二开关单元电连接所述第一点灯测试信号线或第二点灯测试信号线，其中：

所述第二开关单元被配置为，在所述总控制信号线的控制下，将所述第一点灯测试信号线或第二点灯测试信号线的信号提供给所述第一开关单元。

在一示例性实施例中，所述多路选择单元包括：与所述子像素列一一对应的第三开关单元，与所述多个数据控制端分别电连接的多个第二控制信号线，所述第三开关单元电连接一条所述扇出引线，以及一条第二控制信号线，其中：

所述第三开关单元被配置为，在所述第二控制信号线的控制下，将所述扇出引线的信号提供给数据线。

在一示例性实施例中，所述子像素列包括第一颜色子像素列、第二颜色子像素列和第三颜色子像素列，所述多个第二控制信号线包括第四子控制信号线、第五子控制信号线和第六子控制信号线，所述第四子控制信号线控制与第一颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元，所述第五控子制信号线控制与第二颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元，所述第六子控制信号线控制与第三颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元，且一条扇出引线的信号提供给不相邻且不同颜色的三个子像素列对应的数据线。

又一方面，本公开实施例提供一种显示装置，所述显示装置包括上述显示基板。

再一方面，本公开实施例提供一种检测方法，应用于上述显示基板，所述检测方法包括：

加载导通控制信号至所述数据控制端，导通所述扇出引线和所述数据线；

加载点灯测试信号至所述点灯测试信号端，依次导通所述点灯测试信号端与数据线使所述显示基板显示灰阶画面。

在一示例性实施例中，所述点灯测试信号端包括第一点灯测试信号端和第二点灯测试信号端，所述加载点灯测试信号至所述点灯测试信号端包括：分别加载大小相同、极性相反的点灯测试信号至所述第一点灯测试信号端和所述第二点灯测试信号端。

本公开实施例包括一种显示基板及显示装置，检测方法，所述显示基板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述周边区包括设置在所述显示区第一侧的点灯测试单元，设置在所述显示区第二侧的多路选择单元，设置在所述多路选择单元远离所述显示区一侧的扇形区，所述扇形区包括多条扇出引线，所述第一侧和第二侧为相对的两侧，所述显示区包括多个子像素列和与所述子像素列一一对应的多条数据线；所述点灯测试单元电连接多个测试控制端、点灯测试信号端和所述数据线，被配置为在所述测试控制端的控制下，将所述点灯测试信号端的点灯测试信号提供给所述数据线；所述多路选择单元电连接多个数据控制端、扇出引线和所述数据线，被配置为在所述数据控制端的控制下，将所述扇出引线的信号提供给所述数据线，且一条扇出引线的信号提供给至少两个子像素列对应的数据线。本实施例提供的方案，将点灯测试单元和多路选择单元分立设置，便于在盒测试时检测出扇出引线的不良，规避后端模组资材的浪费；另外，点灯测试单元设置在显示基板的信号输出侧时，表面会覆盖其他膜层，相比点灯测试单元设置在显示基板的信号输入侧时，处于裸露状态导致导入静电的方案，本实施例提供的方案，可以减少点灯测试单元处的静电，提高产品良率。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

附图说明

附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对技术方案的限制。

图1为一技术方案提供的显示基板示意图；

图2为本公开实施例提供的显示基板平面示意图；

图3为一示例性实施例提供的显示基板示意图；

图4为一示例性实施例提供的显示基板的电路等效示意图；

图5为一示例性实施例提供的显示基板的电路等效示意图；

图6为一示例性实施例提供的显示基板的驱动时序示意图；

图7为一示例性实施例提供的显示基板存在短接不良示意图；

图8为一示例性实施例提供的显示基板检测出的画面不良示意图；

图9为一示例性实施例提供的检测方法流程图。

具体实施方式

下文中将结合附图对本公开实施例进行详细说明。在不冲突的情况下，本公开实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。

在附图中，有时为了明确起见，夸大表示了各构成要素的大小、层的厚度或区域。因此，本公开的实施方式并不一定限定于该尺寸，附图中各部件的形状和大小不反映真实比例。此外，附图示意性地示出了理想的例子，本公开的实施方式不局限于附图所示的形状或数值。

本公开中的“第一”、“第二”、“第三”等序数词是为了避免构成要素的混同而设置，并不表示任何顺序、数量或者重要性。

在本公开中，为了方便起见，使用“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位或位置关系的词句以参照附图说明构成要素的位置关系，仅是为了便于描述本说明书和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。构成要素的位置关系根据描述各构成要素的方向适当地改变。因此，不局限于在公开中说明的词句，根据情况可以适当地更换。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，或可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或通过中间件间接相连，或两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在本公开中，晶体管是指至少包括栅电极、漏电极以及源电极这三个端子的元件。晶体管在漏电极(漏电极端子、漏区域或漏电极)与源电极(源电极端子、源区域或源电极)之间具有沟道区域，并且电流能够流过漏电极、沟道区域以及源电极。

在本公开中，可以是第一极为漏电极、第二极为源电极，或者可以是第一极为源电极、第二极为漏电极。在使用极性相反的晶体管的情况或电路工作中的电流方向变化的情况等下，“源电极”及“漏电极”的功能有时互相调换。因此，在本公开中，“源电极”和“漏电极”可以互相调换。

在本公开中，“电连接”包括构成要素通过具有某种电作用的元件连接在一起的情况。“具有某种电作用的元件”只要可以进行连接的构成要素间的电信号的授受，就对其没有特别的限制。“具有某种电作用的元件”的例子不仅包括电极和布线，而且还包括晶体管等开关元件、电阻器、电感器、电容器、其它具有各种功能的元件等。

在本公开中，“平行”是指两条直线形成的角度为-10°以上且10°以下的状态，因此，也包括该角度为-5°以上且5°以下的状态。另外，“垂直”是指两条直线形成的角度为80°以上且100°以下的状态，因此，也包括85°以上且95°以下的角度的状态。

显示面板在成盒的时候会经过切割、人员搬运检测等，由于fanout布线裸露在外且区域较大在此过程中极易造成fanout区划伤导致相邻走线短路(short)在一起，液晶盒点灯是没有问题的，但是当模组点灯的时候会出现触控(touch)块及暗线不良。

一种技术方案中，采用mux单元与ct单元共用设计，这种情况下液晶盒点灯无法检测出fanout划伤所引起的不良，如图1所示。液晶盒点灯时，由点灯治具探针(pin)直接压到液晶盒从盒测试(celltest，ct)单元输入电压实现显示，不经过扇形区，因此，无法检测扇形区划伤引起的不良。

图2为本公开实施例提供的一种显示基板平面示意图。如图2所示，本公开实施例提供的显示基板包括：显示区100和围绕所述显示区100的周边区200，所述周边区200包括设置在所述显示区100第一侧的点灯测试单元10，设置在所述显示区100第二侧的多路选择单元20，设置在所述多路选择单元20远离所述显示区100一侧的扇形区30，所述扇形区30包括多条扇出引线31，所述第一侧和第二侧为相对的两侧，所述显示区100包括多个子像素列和与所述子像素列一一对应的多条数据线101；所述子像素列包括多个子像素，与所述子像素列对应的数据线101被配置为提供数据信号给对应的子像素列的子像素以点亮所述子像素。所述扇形区30远离所述显示区100一侧包括绑定区40，所述绑定区40可以与柔性电路板50绑定。所述周边区200还可以包括设置在所述显示区100第三侧、第四侧至少之一的阵列基板栅极驱动(gateonarray，goa)电路60，所述goa电路60被配置为依次输出扫描信号至子像素行，逐行开启子像素。所述第三侧、第四侧与所述第一侧、第二侧相邻。可以看到，第一侧可以为显示基板的信号输出(dataout，do)侧，第二侧可以为显示基板的信号输入(dataprint，dp)侧。

在一示例性实施例中，所述显示基板比如为液晶显示基板。

图3为本公开实施例提供的显示基板电路示意图。如图3所示，所述点灯测试单元10电连接多个测试控制端a1至an，点灯测试信号端d和所述数据线101，被配置为在所述测试控制端a1至an的控制下，将点灯测试信号端d的点灯测试信号提供给所述数据线101；

所述多路选择单元20电连接多个数据控制端c1至cm、扇出引线data1至datak和所述数据线101，被配置为在所述数据控制端c1至cm的控制下，将所述扇形区30的扇出引线data1至datak的信号提供给所述数据线101，且一条扇出引线的信号提供给至少两个子像素列对应的数据线。m，n可以和一个像素包括的子像素数目有关，比如，一个像素包括3个子像素时，m，n可以为3，k与子像素列数和一条扇出引线连接的数据线数量有关，比如，一条扇出引线连接3条数据线，子像素列为n列，则k＝n/3。

本实施例提供的方案，将点灯测试单元和多路选择单元分立设置，便于在盒测试时检测出扇出引线的不良，规避后端模组资材的浪费；另外，点灯测试单元设置在显示基板的信号输出侧时，表面会覆盖其他膜层，相比点灯测试单元设置在显示基板的信号输入侧时，处于裸露状态导致导入静电的方案，本实施例提供的方案，可以减少点灯测试单元处的静电，提高产品良率。

在一示例性实施例中，与同一扇出引线电连接的数据线的数量不受特别限制，大于1即可，例如与同一扇出引线电连接的数据线的数量可以为2，3，6条等等。

在一示例性实施例中，一条扇出引线的信号可以提供给不相邻的多个子像素列对应的数据线。比如，如图4所示，扇出引线data1电连接到子像素列b1、子像素列r1和子像素列g2，其中，子像素列b1，子像素列r1，子像素列g2彼此不相邻；扇出引线data2电连接到子像素列g1、子像素列b2和子像素列r2，其中，子像素列g1，子像素列b2，子像素列r2彼此不相邻。

在一示例性实施例中，所述点灯测试信号端d包括第一点灯测试信号端d1和第二点灯测试信号端d2，所述点灯测试单元10包括电连接所述第一点灯测试信号端d1的第一点灯测试信号线ctd_even、电连接所述第二点灯测试信号端d2的第二点灯测试信号线ctd_odd、与所述子像素列一一对应的第一开关单元11、与所述多个测试控制端a1至an分别电连接的多个第一控制信号线，所述第一开关单元11电连接所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd，以及一条第一控制信号线ai，其中，

所述第一开关单元11被配置为，在所述第一控制信号线的控制下，将所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd的信号提供给数据线101，且所述第一点灯测试信号线ctd_even的信号可以提供给偶数列子像素列对应的数据线，所述第二点灯测试信号线ctd_odd的信号可以提供给奇数列子像素列对应的数据线。即偶数列的第一开关单元11电连接到第一点灯测试信号线ctd_even，奇数列的第一开关单元11电连接到第二点灯测试信号线ctd_odd。

液晶显示基板相邻的子像素加载大小相同，极性相反的电压，且可以每帧进行一次极性反转，但不限于此。

如图4所示，子像素列r1、b1和g2为奇数列的子像素列，通过第一开关单元11连接到第二点灯测试信号线ctd_odd，子像素列g1、r2和b2为偶数列的子像素列，通过第一开关单元11连接到第一点灯测试信号线ctd_even。

在一示例性实施中，同一扇出引线所电连接的数据线，电连接到同一点灯测试信号线，比如，都电连接到第一点灯测试信号线，或者，都电连接到第二点灯测试信号线。

在一示例性实施例中，相邻的扇出引线所电连接的数据线，电连接到不同的点灯测试信号线。比如，相邻的第一扇出引线和第二扇出引线所电连接的数据线中，第一扇出引线所电连接的数据线电连接到第一点灯测试信号线，第二扇出引线电连接的数据线电连接到第二点灯测试信号线，当第一点灯测试信号线和第二点灯测试信号线加载大小相同，极性相反的电压时，第一扇出引线和第二扇出引线短接时，加载到第一扇出引线和第二扇出引线所连接的数据线的信号彼此抵消，出现暗线。比如，扇出引线data1电连接到子像素列r1、b1和g2对应的数据线，子像素列r1、b1和g2对应的数据线均电连接到第二点灯测试信号线cte_odd；即同一扇出引线电连接的数据线电连接奥同一点灯测试信号线；扇出引线data2电连接到子像素列g1、r2和b2对应的数据线，子像素列g1、r2和b2对应的数据线均电连接到第一点灯测试信号线ctd_even。相邻的扇出引线电连接的数据线电连接到不同的点灯测试信号线。

在一示例性实施例中，如图5所示，所述第一开关单元11可以包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极电连接第一控制信号线，第一极电连接所述数据线，第二极电连接所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd。控制极比如为栅极，第一极可以是源极或漏极，第二极可以是源极或漏极。第一薄膜晶体管t11至第六薄膜晶体管t16分别表示6个第一开关单元11。图5仅示出了第一开关单元的示例性结构，第一开关单元的实现方式不限于此，只要能够实现其功能即可。

在一示例性实施例中，所述子像素列包括第一颜色子像素列、第二颜色子像素列和第三颜色子像素列，所述多个第一控制信号线包括第一子控制信号线ctswr、第二子控制信号线ctswg和第三子控制信号线ctswb，所述第一子控制信号线ctswr控制与第一颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元，所述第二控子制信号线ctswg控制与第二颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元，所述第三子控制信号线ctswb控制与第三颜色子像素列的数据线相连的第一开关单元。如图4所示，所述第一颜色子像素列可以是红色子像素列，所述第二颜色子像素列可以是绿色子像素列，所述第三颜色子像素列可以是蓝色子像素列，子像素列r1和r2为红色子像素列，电连接到第一子控制信号线ctswr，子像素列g1和g2为绿色子像素列，电连接到第二子控制信号线ctswg，子像素列b1和b2为蓝色子像素列，电连接到第三子控制信号线ctswb。

在一示例性实施例中，所述点灯测试单元还包括与所述第一开关单元11一一对应的第二开关单元12，总控制信号线ctsw，总控制信号线ctsw电连接总控制信号端c，所述第二开关单元12电连接所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd，其中：

所述第二开关单元12被配置为，在所述总控制信号线ctsw的控制下，将所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd的信号提供给所述第一开关单元11。比如，偶数列的第二开关单元12电连接到第一点灯测试信号线ctd_even，奇数列的第二开关单元12电连接到第二点灯测试信号线ctd_odd。即可以使用总控制信号线ctsw控制是否开启测试，当进行测试时，通过总控制信号线ctsw开启所有的第二开关单元12，当不进行测试时，通过总控制信号线ctsw关闭所有的第二开关单元12。

在一示例性实施例中，如图5所示，所述第二开关单元12可以包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极电连接总控制信号线ctsw，第一极电连接所述第一开关单元11，第二极电连接所述第一点灯测试信号线ctd_even或第二点灯测试信号线ctd_odd。所述薄膜晶体管的控制极比如为栅极，第一极可以是源极或漏极，第二极可以是漏极或源极。第七薄膜晶体管t21至第十二薄膜晶体管t26分别表示6个第二开关单元12。图5仅示出了第二开关单元的示例性结构，第二开关单元的实现方式不限于此，只要能够实现其功能即可。

在一示例性实施例中，如图4所示，所述多路选择单元20包括：与所述子像素列一一对应的第三开关单元21，与所述多个数据控制端cj(j＝1至m)分别电连接的多个第二控制信号线，所述第三开关单元21电连接一条所述扇出引线，以及一条第二控制信号线，其中：

所述第三开关单元21被配置为，在所述第二控制信号线的控制下，将所述扇出引线的信号提供给数据线。

在一示例性实施例中，如图5所示，所述第三开关单元21可以包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的控制极电连接一条第二控制信号线，第一极电连接所述数据线，第二极电连接所述扇出引线。控制极比如为栅极，第一极可以是源极或漏极，第二极可以是漏极或源极。第十三薄膜晶体管t31至第十八薄膜晶体管t36分别表示6个第三开关单元21。图5仅示出了第三开关单元的示例性结构，第三开关单元的实现方式不限于此，只要能够实现其功能即可。

在一示例性实施例中，所述子像素列包括第一颜色子像素列、第二颜色子像素列和第三颜色子像素列，所述多个第二控制信号线包括第四子控制信号线muxr、第五子控制信号线muxg和第六子控制信号线muxb，所述第四子控制信号线muxr控制与第一颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元21，所述第五控子制信号线muxg控制与第二颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元21，所述第六子控制信号线muxb控制与第三颜色子像素列的数据线相连的第三开关单元21，且一条扇出引线的信号可以提供给不相邻且不同颜色的三个子像素列对应的数据线。比如，所述第一颜色子像素列可以是红色子像素列，所述第二颜色子像素列可以是绿色子像素列，所述第三颜色子像素列可以是蓝色子像素列，子像素列r1和r2为红色子像素列，电连接到第四子控制信号线muxr，子像素列g1和g2为绿色子像素列，电连接到第五子控制信号线muxg，子像素列b1和b2为蓝色子像素列，电连接到第六子控制信号线muxb。扇出引线data1的信号提供给不相邻且不同颜色的3个子像素列r1、b1和g2，扇出引线data2的信号提供给不相邻且不同颜色的3个子像素列g1、r1和b2。

图5为一实施例提供的显示基板电路示意图。图5中仅示意了两条扇出引线data1和data2，六个子像素列r1、g1、b1、r2、g2、b2，r1和r2为红色子像素列，g1、g2为绿色子像素列，b1和b2为蓝色子像素列。如图5所示，本实施例提供的显示基板包括：第一点灯测试信号线ctd_even、第二点灯测试信号线ctd_odd，总控制信号线ctsw，第一子控制信号线ctswr、第二子控制信号线ctswg和第三子控制信号线ctswb，第四子控制信号线muxr、第五子控制信号线muxg和第六子控制信号线muxb，薄膜晶体管t11至t16，t21至t26，t31至t36，其中，

第七薄膜晶体管t21至第十二薄膜晶体管t26的栅极电连接到总控制信号线ctsw，薄膜晶体管第七薄膜晶体管t21、第九薄膜晶体管t23、第十一薄膜晶体管t25的第一极电连接到第二点灯测试信号线ctd_odd，第八薄膜晶体管t22、第十薄膜晶体管t24、第十二薄膜晶体管t26的第一极电连接到第一点灯测试信号线ctd_even，薄膜晶体管t21至t26的第二极分别电连接到对应的薄膜晶体管t11至t16的第一极，其中，第七薄膜晶体管t21对应第一薄膜晶体管t11，第八薄膜晶体管t22对应第二薄膜晶体管t12，第九薄膜晶体管t23对应第三薄膜晶体管t13，第十薄膜晶体管t24对应第四薄膜晶体管t14，第十一薄膜晶体管t25对应第五薄膜晶体管t15，第十二薄膜晶体管t26对应第六薄膜晶体管t16；

第一薄膜晶体管t11和第四薄膜晶体管t14的控制极电连接第一子控制信号线ctswr，第一薄膜晶体管t11的第二极电连接子像素列r1对应的数据线；第四薄膜晶体管t14的第二极电连接子像素列r2对应的数据线；

第二薄膜晶体管t12和第五薄膜晶体管t15的控制极电连接第二子控制信号线ctswg，第二薄膜晶体管t12的第二极电连接子像素列g1对应的数据线；第五薄膜晶体管t15的第二极电连接子像素列g2对应的数据线；

第三薄膜晶体管t13和第六薄膜晶体管t16的控制极电连接第三子控制信号线ctswb，第三薄膜晶体管t13的第二极电连接子像素列b1对应的数据线；第六薄膜晶体管t16的第二极电连接子像素列b2对应的数据线；

薄膜晶体管t31、t33、t35的第二极电连接扇出引线data1，薄膜晶体管t32、t34、t36的第二极电连接扇出引线data2；

第十三薄膜晶体管t31和第十六薄膜晶体管t34的控制极电连接第四子控制信号线muxr，第十三薄膜晶体管t31的第一极电连接子像素列r1对应的数据线；第十六薄膜晶体管t34的第一极电连接子像素列r2对应的数据线；

第十四薄膜晶体管t32和第十七薄膜晶体管t35的控制极电连接第五子控制信号线muxg，第十四薄膜晶体管t32的第一极电连接子像素列g1对应的数据线；第十七薄膜晶体管t35的第一极电连接子像素列g2对应的数据线；

第十五薄膜晶体管t33和第十八薄膜晶体管t36的控制极电连接第2子控制信号线muxb，第十五薄膜晶体管t33的第一极电连接子像素列b1对应的数据线；第十八薄膜晶体管t36的第一极电连接子像素列b2对应的数据线。

图6为对图5所示显示基板进行点灯测试时的时序示意图。本实施例中，以薄膜晶体管加载高电平信号导通为例进行说明，但不限于此。图6中省略了加载到总控制信号线ctsw的时序信号。如图6所示，stv为起始信号，ckb为时钟信号，ctd_even(r)是加载到第一点灯测试信号线ctd_even上的信号，ctd_dd(r)是加载到第二点灯测试信号线ctd_odd上的信号。图6中示意的是显示灰阶画面时加载的时序信号。进行单色画面或其他画面的检测的时序信号未示出。

本实施例中，进行灰阶画面检测时，在总控制信号线ctsw上加载高电平信号，开启薄膜晶体管t21至t26，在第一点灯测试信号线ctd_even和第二点灯测试信号线ctd_odd上加载大小相等、极性相反的电压信号，且每帧进行极性切换，在第四子控制信号线muxr、第五子控制信号线muxg、第六子控制信号线muxb上加载高电平信号，开启薄膜晶体管t31至t36，在第一子控制信号线ctswr、第二子控制信号线ctswg，第三子控制信号线ctswb加载图6所示的驱动信号，依次开启不同颜色的子像素列，使得显示基板显示灰阶画面。

进行单色画面检测时，比如，进行红色画面检测时，可以将第二子控制信号线ctswg，第三子控制信号线ctswb均加载低电平信号，关闭绿色子像素列和蓝色子像素列。

图7为一示例性实施例提供的显示基板平面示意图。图7中未示意出总控制信号线ctsw和与总控制信号线ctsw电连接的薄膜晶体管。如图7所示，第一子控制信号线ctswr、第二子控制信号线ctswg、第三子控制信号线ctswb、第二点灯测试信号线ctd_odd、第一点灯测试信号线ctd_even设置在显示区的第一侧，从靠近显示区至远离显示区方向依次排布，第四子控制信号线muxr、第五子控制信号线muxg和第六子控制信号线muxb设置在所述显示区的第二侧，从远离显示区至靠近显示区方向依次排布，本实施例中，扇出引线311和扇出引线312使用金属划伤，造成短接不良。进行点灯测试时，加载到子像素列r1、b1、g2的第一点灯测试信号为正电压信号，加载到子像素列g1、r2、b2的第二点灯测试信号为负电压信号，而扇出引线311和扇出引线312短接，扇出引线311电连接到子像素列r1、b1、g2，扇出引线312电连接到子像素列g1、r2和b2，二者短接后，加载到子像素列r1、b1、g2的正电压信号和加载到子像素列g1、r2、b2的负电压信号彼此抵消，子像素列出现r1、b1、g2、g1、r2、b2出现暗线，如图8所示。本实施例提供的方案，可以有效拦截扇出引线不良，规避后端模组资材的浪费。本实施例以相邻的两个扇出引线短接为例进行说明。当存在更多扇出引线短接时类似，不再赘述。

本公开实施例还提供了一种显示装置，包括前述实施例的显示基板。所述显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

图9为本公开实施例提供的检测方法流程图。如图9所示，本公开实施例提供一种检测方法，应用于上述显示基板，所述检测方法包括：

步骤901，加载导通控制信号至所述数据控制端，导通所述扇出引线和所述数据线；

步骤902，加载点灯测试信号至所述点灯测试信号端，依次导通所述点灯测试信号端与数据线使所述显示基板显示灰阶画面。

本实施例提供的方案，在点灯测试时，导通扇出引线和数据线，当相邻的扇出引线短接时，相邻的数据线短接，显示基板的显示画面不同，因此，可以检测出扇出引线短接不良。

在一示例性实施例中，所述点灯测试信号端包括第一点灯测试信号端和第二点灯测试信号端，所述加载点灯测试信号至所述点灯测试信号端包括：分别加载大小相同、极性相反的点灯测试信号至所述第一点灯测试信号端和所述第二点灯测试信号端。本实施例提供的方案，相邻的扇出引线短接时，相邻的数据线短接，当相邻的数据线分别加载第一点灯测试信号端和所述第二点灯测试信号端的信号时，二者由于大小相同、极性相反，彼此互相抵消，该短接的扇出引线所电连接的子像素列产生暗线，可以方便的检出扇出引线短接不良。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。