一种Mura自动检测方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及显示技术，特别涉及一种Mura自动检测方法及系统。
【背景技术】
[0002] 液晶显示装置（Liquid Crystal Display，LCD)具备轻薄、节能、无福射等诸多优 点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管（CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛地应用于 高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理（PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电 子设备中。
[0003] 以薄膜晶体管（Thin Film Transistor，TFT)液晶显示装置为例，其包括：液晶显 示面板和驱动电路，其中，液晶显示面板包括多条扫描线与多条数据线，且相邻的两条扫描 线与相邻的两条数据线交叉形成一个像素单元，每个像素单元至少包括一个TFT。驱动电路 包括栅极驱动电路（gate drive circuit)和源极驱动电路（source drive circuit)。随 着生产者对液晶显示装置的低成本化追求以及制造工艺的提高，原本设置于液晶显示面板 以外的驱动电路集成芯片被设置于液晶显示面板的玻璃基板上成为了可能，例如，将栅极 驱动集成电路设置于阵列基板（Gate IC inArray，GIA)上从而简化液晶显示装置的制造过 程，并降低生产成本。
[0004] 液晶显示面板与驱动电路的基本工作原理为：栅极驱动电路通过与扫描线电性连 接的上拉晶体管向扫描线送出栅极驱动信号，依序将每一行的TFT打开，然后源极驱动电 路向数据线送出的数据信号同时将一整行的像素单元充电到各自所需的电压，以显示不同 的灰阶。
[0005] 随着LCD向大尺寸、轻薄化、低功耗、高分辨率的方向发展，LCD的显示不均匀缺陷 (Mura)产生的几率大大增加，LCD的Mura检测成为制约LCD产业发展的重要因素。目前 LCD的Mura检测主要依靠人眼检测，然而人眼检测方法的检测结果容易受人的主观因素以 及外界环境的影响，且对缺陷等级判定没有统一的标准，检测准确率低、且检测效率不高。
[0006] 因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。
【发明内容】
[0007] 本发明的目的在于提供一种能提高准确率及效率的Mura自动检测方法。
[0008] 本发明提供一种Mura自动检测方法，包括建立数据库，所述建立数据库包括利用 图像成像装置采集多个参考显示面板的图像；将每个参考显示面板的图像分别分为多个区 域；接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值；将每个参考显示面板的每个区域的 JND观测值进行正态分布统计处理，以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值；以 及存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值；利用图像成像装置 采集待测显示面板的图像；将所述待测显示面板的图像分为多个区域；以及调用所述数据 库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
[0009] 本发明还提供一种Mura自动检测系统，包括：参考JND值生成装置、数据库、图 像成像装置、第一图像处理装置、第二图像处理装置。其中，所述参考JND值生成装置用于 对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理，并接收每个参考显示面板的每个区域的 JND观测值后进行正态分布统计处理，以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值。 所述数据库用于存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值。所述 图像成像装置用于采集待测显示面板的图像。所述第一图像处理装置用于将所述待测显示 面板的图像分为多个区域。所述第二图像处理装置用于调用所述数据库中与所述待测显示 面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
[0010] 本发明提供的Mura自动检测方法及系统对每个参考显示面板的每个区域的JND 观测值进行正态分布统计处理，以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值，从而 能通过调用数据库中的参考JND值得实现Mura的自动检测，提高了准确率与效率。
【附图说明】
[0011] 图1为本发明一实施方式之建立数据库的流程示意图。
[0012] 图2为将显示面板的图像分为多个区域的示意图。
[0013] 图3为正态分布的概率密度函数曲线示意图。
[0014] 图4为本发明一实施方式之Mura自动检测方法的流程示意图。
[0015] 图5本发明一实施方式之Mura自动检测系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016] 为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合 附图及较佳实施例，对依据本发明提出的Mura自动检测方法及系统其【具体实施方式】、方 法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。
[0017] 有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实 施例的详细说明中将可清楚的呈现。通过【具体实施方式】的说明，当可对本发明为达成预定 目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与 说明之用，并非用来对本发明加以限制。
[0018] 图1为本发明一实施方式之建立数据库的流程示意图。其中，建立的数据库为JND 值数据库，该建立JND值数据库包括如下步骤：
[0019] 步骤SllO :利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像；
[0020] 具体的，图像成像装置可以但不限于为电荷親合元件（Charge - coupled Device，CO))、或摄像头等等。
[0021] 其中，图像成像装置在垂直方向对被点亮的参考显示面板拍照或摄影，以采集参 考显示面板的图像。
[0022] 其中，进入步骤SI 10之后还可以对每个参考显示面板的图像进行图像处理。具体 地，图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波、无边缘活动（CV)主动轮廓模型和水平集方 法（Level Set Method)处理。
[0023] 其中，Gabor滤波用于消除不均匀背景，同态滤波用于进行亮度校正，从而改善亮 度不均匀的问题，CV主动轮廓模型和水平集方法用于实现图像的分割。
[0024] 步骤S120 :将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域；
[0025] 具体地，请参考图2,图2为将显示面板的图像分为多个区域的示意图。如图2所 示，参考显示面板可以被分为9 * 14个区域，当然本领域的技术人员可以理解的是，可以根 据显示面板的具体参数例如尺寸、分辨率等等将每个参考显示面板为分为更多或更少的区 域。
[0026] 步骤S130 :接收每个参考显示面板的每个区域的正好可注意到的差异（Just Noticeable Difference，JND)观测值；
[0027] 具体地，每个参考显示面板的每个区域的JND观测值可以通过至少一个观察者通 过人眼判断获取。
[0028] 步骤S140 :将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处 理，以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值；
[0029] 具体地，请参考图3,图3为正态分布的概率密度函数曲线示意图。如图3所示，概 率密度函数
其中，μ为均值，σ为方差。由于如果一个 量是由许多微小的独立随机因素影响的结果，那么就可以认为这些数据就服从正态分布， 因此，当每个区域参与计算的JND观测值达到一定值时，这些JND观测值就服从正态分布， 从而可以根据正态分布曲线的3 σ准则删除超出范围的JND观测值，且以未超出范围的JND 观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
[0030] 步骤S150 :存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值。
[0031] 图4为本发明一实施方式之Mura自动检测方法的流程示意图。Mura自动检测方 法包括如下步骤：
[0032] 步骤S41 :建立数据库；
[0033] 其中，建立数据库的具体步骤可以参考图1，在此不再赘述。
[0034] 步骤S42 :利用图像成像装置采集待测显示面板的图像；
[0035] 具体的，图像成像装置可以但不限于为电荷親合元件（Charge - coupled Device，CO))、或摄像头等等。
[0036] 其中，