液晶显示面板结构及液晶显示面板esd监控方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板结构及液晶显示面板ESD监控方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，得到了广泛的应用，如:液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。
[0003]现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括壳体、设于壳体内的液晶显示面板及设于壳体内并相对液晶显示面板设置的背光模组(BacklightModule)ο
[0004]液晶面板的结构通常是由一彩色滤光片基板(Color Filter，CF)、一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成，其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，将背光模组的光线折射出来产生画面。
[0005]在CF基板与TFT阵列基板，尤其是TFT阵列基板的生产过程中，静电放电(Electro-Static discharge，ESD)是非常常见也很难避免的现象。导致静电放电的原因主要有:一是颗粒；二是工艺条件和原材料，在液晶显示面板的CF基板与TFT阵列基板的制作过程中，沉积工序、曝光工序、蚀刻工序、剥离以及清洁工序等的工艺条件都可能会引起静电放电，同时，制程中所用到的原材料由于材料缺陷也会产生静电放电。
[0006]静电放电会导致液晶显示面板良率降低、成本增加、产能下降，因此在液晶显示面板的生产过程中需ESD监控工作。目前用于液晶显示面板的ESD监控方法主要是通过拍照检测机台及电信检测机台等机台对液晶显示面板的显示区域进行检测，而检测到ESD时已经对液晶显示面板的产品品质造成了影响。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于提供一种液晶显示面板结构，能够及时、持续监控液晶显示面板ESD的发生情况，预知ESD的发生风险，利于对产品做出改善。
[0008]本发明的目的还在于提供一种液晶显示面板ESD监控方法，能够及时、持续监控液晶显示面板ESD的发生情况，预知ESD的发生风险，利于对产品做出改善。
[0009]为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示面板结构，包括:相对设置的TFT阵列基板、CF基板、及配置于TFT阵列基板与CF基板之间的液晶层；
[0010]所述TFT阵列基板具有显示区域、及位于所述显示区域外围的无接线周边区域；
[0011]所述TFT阵列基板的无接线周边区域设置有多组沿第一方向相互间隔且平行设置的静电放电测试元件，每组静电放电测试元件均包括两个沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且间隔且相对设置的金属测试条，该两个金属测试条的相对端为尖端；各组静电放电测试元件的两个金属测试条的尖端之间沿第二方向的间隔距离不相等。
[0012]所述尖端的形状为尖锐的三角形。
[0013]相邻两组静电放电测试元件沿第一方向的间隔距离相等。
[0014]所述TFT阵列基板包括自下而上设置的基板、第一金属层、第一绝缘层、半导体层、第二绝缘层、第二金属层、第三绝缘层、及像素电极层，所述多组静电放电测试元件与所述第二金属层位于同一层且由同样的金属材料同时制作。
[0015]所述多组静电放电测试元件与第二金属层的材料为钼、钛、铝、铜中的一种或多种的堆栈组合。
[0016]本发明还提供一种液晶显示面板ESD监控方法，包括:制作液晶显示面板TFT阵列基板的第二金属层的同时在第二金属层对应显示区域外围的无接线周边区域制作多组静电放电测试元件的步骤，以及每完成一道液晶显示面板的后续制程后对多组静电放电测试元件进行定点拍照，监控多组静电放电测试元件的静电放电情况的步骤；
[0017]所述多组静电放电测试元件沿第一方向相互间隔且平行设置，每组静电放电测试元件均包括两个沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且间隔且相对设置的金属测试条，该两个金属测试条的相对端为尖端；各组静电放电测试元件的两个金属测试条的尖端之间沿第二方向的间隔距离不相等。
[0018]所述尖端的形状为尖锐的三角形。
[0019]相邻两组静电放电测试元件沿第一方向的间隔距离相等。
[0020]所述多组静电放电测试元件与第二金属层的材料为钼、钛、铝、铜中的一种或多种的堆栈组合。
[0021]本发明的有益效果:本发明提供的一种液晶显示面板结构，在TFT阵列基板的无接线周边区域设置多组沿第一方向相互间隔且平行设置的静电放电测试元件，每组静电放电测试元件均包括两个沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且间隔且相对设置的金属测试条，该两个金属测试条的相对端为尖端，更容易诱导静电放电发生，因此能够通过监控所述静电放电测试元件来及时、持续地监控液晶显示面板ESD的发生情况，预知ESD的发生风险，利于对产品做出改善；本发明提供的一种液晶显示面板ESD监控方法在制作阵列基板的第二金属层的同时制作出多组静电放电测试元件，再通过对多组静电放电测试元件进行定点拍照来监控其静电放电情况，能够及时、持续地监控液晶显示面板ESD的发生情况，预知ESD的发生风险，利于对产品做出改善。
[0022]为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
【附图说明】
[0023]下面结合附图，通过对本发明的【具体实施方式】详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0024]附图中，
[0025]图1为本发明的液晶显示面板结构的剖面示意图；
[0026]图2为发明的液晶显示面板结构中TFT阵列基板的俯视示意图；
[0027]图3为图2中静电放电测试元件的放大示意图。
【具体实施方式】
[0028]为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0029]请同时参阅图1、图2、与图3，本发明首先提供一种液晶显示面板结构，包括:相对设置的TFT阵列基板1、CF基板2、及配置于TFT阵列基板I与CF基板2之间的液晶层3。
[0030]所述TFT阵列基板I具有显示区域AA、及位于所述显示区域AA外围的无接线周边区域B。所述TFT阵列基板I的无接线周边区域B设置有多组沿第一方向相互间隔且平行设置的静电放电测试元件5，每组静电放电测试元件5均包括两个沿垂直于所述第一方向的第二方向相互且间隔且相对设置的金属测试条51，该两个金属测试条51的相对端为尖端511 ;各组静电放电测试元件5的两个金属测试条51的尖端511之间沿第二方向的间隔距离不相等。
[0031]如图2、图3所示，所述尖端511的形状优选为尖锐的三角形。
[0032]相邻两组静电放电测试元件5沿第一方向的间隔距离相等。
[0033]具体地，如图1所示，所述TFT阵列基板I包括自下而上设置的基板11、第一金属层12、第一绝缘层13、半导体层14、第二绝缘层15、第二金属层16、第三绝缘层17、及像素电极层18。与现有技术无异，所述基板11通常为玻璃基板或塑料基板，所述第一金属层12包括TFT的栅极、及扫描线的图案，所述第二金属层16包括TFT的源极、漏极、及数据线的图案。考虑到静电放电多发生TFT阵列基板I的第二金属层，因此设置所述多组静电放电测试元件5与所述第二金属层16位于同一层且由同样的金属材料同时制作。进一步地，所述多组静电放电测试元件5与第二金属层16的材料为钼、钛、铝、铜中的一种或多种的堆栈组合。
[0034]由于所述静电放电测试元件5的两个金属测试条51的相对端为尖端511，静电荷更容易累积在所述尖端511处，相比显示区域内的线路及图案更容易诱导静电放电的产生，故能在一道制程结束后通过拍照观察所述多组静电放电测试元件5的静电放电情况来判断液晶显示面板发生静电放电的风险。同时，由于各组静电放电测试元件5的两个金属测试条51的尖端511之间沿第二方向的间隔距离不相等，不同静电放电测试